(₽)
($)
(₽)
(€)
(£)
Зарегистрировать лабораторию
Лаборатории
Доставка и оплата
Пункты самовывоза
Информация
Контакты
Возврат
Москва
Мой профиль
Заказы
Список сравнения
Отложенные товары
Отслеживание заказа
Отслеживание заказа
Войти
Регистрация
E-mail
Пароль
Забыли пароль?
Создать учетную запись
Войти
Запомнить
+7(800)
777-76-19
Пн-Пт: 9:00-18:00
Заказать обратный звонок
Корзина пуста
Корзина пуста
Корзина
Оформить заказ
Меню
Каталог услуг
Каталог лабораторий
Каталог производителей
Каталог оборудования
Стандарты и методики
Условия работы
Меню
Спектральные исследования и анализы
Масс-спектральные тесты
Рентгеноструктурные анализы и тесты
Микроскопические тесты и исследования
Атомно силовая микроскопия
Сканирующая электронная микроскопия
Лазерная конфокальная микроскопия
Оптическая микроскопия
Акустическая микроскопия
Анализ пористости
Профилометрия
Эллипсометрия
Магнитные исследования
Магнитооптические тесты
Горячие предложения
Исследование магнитооптического эффекта Керра и наблюдение магнитных доменов на тонких пленках на установке Neoark BH-PI7892-KI
В корзину
Купить в один клик
Измерения размеров микро- и нано-структуры тонкопленочных образцов на просвечивающем электронном микроскопе Titan Themis
В корзину
Купить в один клик
Сканирующий тест, анализ топографии поверхности и под-поверхности, проведение 3D исследования на электронном двухлучевом микроскопе Quanta 3D FEG
В корзину
Купить в один клик
Тестирование и анализ тонких пленок, тонкопленочной структуры, толщины слоев, оптических констант, шероховатости поверхности, неоднородности слоев на эллипсометре Auto SE
В корзину
Купить в один клик
Анализ свойств тонких пленок на эллипсометре Horiba Uvisel 2
В корзину
Купить в один клик
Исследование на акустическом микроскопе для объемных структур KSI v-350lm
В корзину
Купить в один клик
