Сканирующий атомно силовой микроскоп P100/P150

Сканирующий атомно силовой микроскоп P100/P150

Атомно силовой микроскоп P100/P150 обладает возможностью проводить сканирование образцов с субнанометровым разрешением по оси Z , микроскоп P100 / P150 может быть использован для получения и анализа изображений с высокой разрешающей способностью. Интегрированный сканер с низким уровнем шума и с открытым контуром позволяет быстро и эффективно проводить эксперименты на 15 мкм на 15 мкм. Наш уникальный астигматический оптический дизайн работает с небольшим 0,56 мкм лазерным пятном, позволяет пользователям экспериментировать с более мелкими и быстрыми консолями АСМ. В комплекте с сканирующим микроскопом P100 / P150 используется наше интуитивно понятное управляющее программное обеспечение PSX, которая позволяет пользователю проводить эксперименты с минимальным уровнем подготовки. Наша программа позволяет проводить сканированик в один клик, что автоматизирует процесс настройки и проверки, что в свою очередь позволяет пользователям быстро получать качественные результаты сканирования. Встроенная функция управления библиотекой сканированных данных упрощает работу с ними и позволяет пользователю легко оперировать массивами значений.

Атомно силовой микроскоп P100/P150

Основные Характеристики

  • Разрешение по оси Z - 0.12 нм
  • Размер пятна лазера - 0.56 мкм
  • Разомкнутый контур сканирования диапазона - 15 мкм х 15 мкм
  • Самонастраиваемая выровненная оптическая конструкция - Лазер и детектор не требуют выравнивания
  • Быстрая установка и простота использования - из коробки, система занимает всего несколько минут, чтобы настроить и начать сканировать.
  • Многоязычность (Английский/Китайский/Японский/Корейский/Испанский/Немецкий/Русский языки)
  • Сканирование одним нажатием кнопки - автоматическая настройка,приближение к поверхности, калибровка и сканирование образца в один клик, с использованием интеллектуальных алгоритмов прогнозирования
  • Простота загрузки образца в камеру

Астигматическая Система Детекторов

Большинство традиционных сканирующих зондовых микроскопов основаны на теории отклонении электронного луча в оптической конструкции. Лазерное пятно перемещается вверх и вниз фотодиод D + A, указывающий на верхнее положение , C + B указывая в нижнее положение. Наша астигматическая оптическая конструкция не двигатеся вдоль фотодиодов, но вместо этого изменяет форму для указания вверхнего и нижнего положения. В результате реализации данного подхода к оптическому дизайну лазер и детектор постоянно самовыравниваются.

PSX AFM программное обеспечение

Интуитивно Понятный Пользовательский Интерфейс

Простой пользовательский интерфейс логики позволяет пользователям, чтобы начать сканирование с минимальной подготовкой. Советы и предупреждения руководства пользователей и рекомендует, какие параметры установить для оптимального сканирования состоянии.

Непрерывное усовершенствование и обновление программного обеспечения

Все пользователи имеют доступ к последней версии нашего программного обеспечения, независимо от гарантии. Мы считаем, что разработка программного обеспечения-это непрерывный процесс. Обратную связь мы получаем от нашего сообщества в обновлении программного обеспечения, что позволяет получать опыт, чтобы продолжать становиться лучше.

Функция сканирования одним нажатием кнопки

Функция сканирование одним нажатием кнопки использует интеллектуальные алгоритмы прогнозирования, чтобы помочь пользователю автоматизировать процесс сканирования. После выравнивания зонда, программа позаботится обо всем, включая тюнинг, взаимодействие с образцом, калибровку силовой кривой, и настройку сканирования.

Управление библиотеками и экспорт данных

Все сканы каталогизированы в программном обеспечении в библиотеки с меткой даты и параметров сканирования. Пользователи могут отмечать избранное, удалять ненужные сканы, проводить сканирование и экспортировать в другие аналитические инструменты.

Технические Характеристики

Система

Полуконтактный метод
Моторизованый
Автоматически
20-500 KHz
15 µm x 15 µm (open-loop)
8 µm (open-loop)
0.23 nm (разрешение привода)
0.12 nm (разрешение привода)
0 - 359
4 Hz
10 мм х 10 мм х 3 мм
30 мм х 30 мм х 10 мм
10 грам
12.1 cm X 12.1 cm X 11.0 cm
34.0 cm X 22.0 cm X 22.0 cm

Электроника

± 10В нет высоких напряжений
16-bit
128-1024

Программное обеспечение

Топография, фаза, амплитуда, 3D
X-Z линейный профиль, Y-Z линейный профиль, Уплощение в реальном времени

Оптика - P150

150 мм x 150 мм
200 µm x 200 µm

Галерея

Графен
Кремниевая пластинаTGQ1