41837 ФР.1.27.2011.09317 Методика выполнения измерений линейных размеров элементов топологии микрорельефа поверхности твердотельных материалов с помощью микроскопа Quanta 200 3D

Сведения о разработчике МВИ

НазваниеЗначение
Разработчик МВИИнститут кристаллографии им. А.В. Шубникова РАН
Наименование разработчика МВИИнститут кристаллографии им. А.В. Шубникова РАН

Сведения об аттестованной методике (методе) измерений

НазваниеЗначение
Номер в реестреФР.1.27.2011.09317
Раздел реестраВне сферы обороны
Вид методикиМетодика (метод) измерений
Назначение методикиНастоящая рекомендация устанавливает методику выполнения измерений линейных размеров элементов топологии микрорельефа поверхности твердотельных материалов с помощью микроскопа Quanta 200 3D
Наименование документа на методикуРекомендация «ГСИ. Линейные размеры элементов топологии микрорельефа поверхности твердотельных материалов, регистрируемых в ионных и электронных пучках. Методика выполнения измерений с помощью микроскопа Quanta 200 3D»
№ свидетельства об аттестации49ПВ
Дата свидетельства об аттестации10.03.2009
Вид измеренийГеометрические измерения
Метод измеренийМетод сравнения длины измеряемого элемента топологии с длиной масштабной метки, предварительно откалиброванной с помощью меры МШПС-2.0К, аттестованной ОАО «НИЦПВ».
Измеряемая величинаЛинейные размеры
Пределы измеренийВ диапазоне 0,04- 1000 мкм.
Характеристика погрешности 8 % в диапазоне 0,04 ÷ 0,08 мкм;  4 % в диапазоне 0,08 ÷ 1000 мкм.
СтатусДействует

Вложения

НазваниеЗначение

Общие сведения

НазваниеЗначение
Номер записи41837
Дата опубликования18.04.2018

В этой категории нет товаров