Последовательный волнодисперсионный рентгенофлуоресцентный спектрометр Lab Center XRF-1800

Последовательный волнодисперсионный рентгенофлуоресцентный спектрометр Lab Center XRF-1800

Волнодисперсионный спектрометр Lab Center XRF-1800 компании Шимадзу расширяет сферу применения волнодисперсионных рентгеновских спектрометров.

  • Качественный и количественный анализ в диапазоне от бериллия Be по уран U на рентгеновском спектрометре XRF-1800 за 2,5 минуты
  • Картирование распределения элементов с шагом 250 мкм
  • Локальный анализ в точке Ø 500 мкм с помощью микроколлиматоров и встроенной цифровой камеры
  • Качественный и количественный анализ с применением линий высших порядков (патент)
  • Определение толщины и элементного состава плёнок органической природы методом фундаментальных параметров с использованием линий Комптоновского рассеяния (патент), определение толщины и элементного состава неорганических покрытий
  • Уникальная система пробоподачи образца

Технические характеристики

Диапазон определяемых элементовОт Be по U, базовая комплектация от O по U
Рентгеновский генератор трубка параметры Rh-анод c тонким торцевым окном, мощность 4 кВт опции: W, Pt, Cr аноды 60 кВ, 150 мА
Система охлажденияДвойной контур, внутренний замкнутый для охлаждения анода, внешний открытый/замкнутый. Рециркулятор воды (опция).
Облучение образцаСверху; образец вращается со скоростью 60 об/мин
Система ввода образцаМаятникового типа, без динамических нагрузок
Автосамплер8 позиций; 40-позиционный (опция)
Держатели образцов7 для массивных образцов, один для локального анализа
Размер образца51 мм в диаметре, высота 38 мм
Первичные фильтрыАвтоматическая смена 5 типов: Al, Ti, Ni, Zr, без фильтра
АпертурыАвтоматическая смена 5 типов: 500 мкм, 3, 10, 20, 30 мм
Локальный анализ0,5 мм диаметр; цифровая камера для контроля области анализа (опция)
Первичные щелиАвтоматическая смена 3 типов: - стандарт - с высоким разрешением - с высокой чувствительностью
АттенюаторАвтоматическое включение/выключение
Сменщик кристалловАвтоматическая смена 10 кристаллов в двух направлениях
Кристаллы-анализаторыLiF (200), PET, Ge, TAP стандартные; LiF (220), SX-52, SX-1, SX-14, SX-88, SX-98, SX-76, SX-410 опции
ДетекторыСцинтилляционный счётчик (SC) для тяжелых элементов, Проточный пропорциональный счетчик (FPC) для лёгких элементов
Система подачи газа для FPCЭлектронный контроль плотности; потребление газа 5 см3/мин
Контроль степени разреженияСтабилизатор вакуума
Атмосфера анализаВоздух/вакуумирование; предварительное вакуумирование с двумя скоростями; система напуска гелия/азота (опция)