Последовательный рентгенофлуоресцентный волнодисперсионный спектрометр Shimadzu Lab Center XRF-1800
Волнодисперсионный спектрометр Lab Center XRF-1800 компании Шимадзу расширяет сферу применения волнодисперсионных рентгеновских спектрометров.
Для эксплуатации прибора не требуется специального помещения. Cпектрометр XRF-180 освобождается от радиационного учета и контроля после оформления соответствующего санитарно-эпидемиологического заключения и от необходимости получения лицензии на право осуществления деятельности в области использования техногенных ИИИ.
Внесен в ГОСРЕЕСТР РФ, имеет Государственный метрологический сертификат РФ.
Области применения
- Электроника и магнитные материалы
- Химическая промышленность
- Качественный и количественный анализ с применением линий высших порядков (патент)
- Нефтяная, нефтехимическая и угольная промышленность
- Силикатные материалы (цементы, стёкла, керамика, горные породы)
- Синтетические волокна, катализаторы, краски, красители, фармпрепараты, косметика, моющие средства, другие органические и неорганические продукты
- Дизельное топливо, смазочные масла, полимеры, уголь, кокс
- Цветная металлургия
- Горнодобывающая промышленность и черная металлургия (передельный чугун, нержавеющие стали, низколегированные стали, шлаки, шлакообразующие смеси, рудные агломераты, ферросплавы, специальные стали, гальванические растворы)
- Сплавы меди, алюминия, свинца, цинка, магния
- Машиностроение
- Объекты окружающей среды
- Почвы, минеральные удобрения, растительные объекты, включая корма для животных
- Промышленные сточные воды, морская вода, речная вода, промышленные отходы, пылевидные загрязнения воздуха
- Сельское хозяйство и пищевая промышленность
- Бумага и целлюлоза
- Академическая наука
Отличительные особенности
- Качественный и количественный анализ в диапазоне от бериллия Be по уран U на рентгеновском спектрометре XRF-1800 за 2,5 минуты
- Картирование распределения элементов с шагом 250 мкм
- Локальный анализ в точке ? 500 мкм с помощью микроколлиматоров и встроенной цифровой камеры
- Качественный и количественный анализ с применением линий высших порядков (патент)
- Определение толщины и элементного состава плёнок органической природы методом фундаментальных параметров с использованием линий Комптоновского рассеяния (патент), определение толщины и элементного состава неорганических покрытий
- Уникальная система пробоподачи образца
Технические характеристики
| Модель | Последовательный волнодисперсионный рентгенофлуоресцентный спектрометр Lab Center XRF-1800 |
| Автосамплер | 8 позиций; 40-позиционный (опция) |
| Апертуры | Автоматическая смена 5 типов: 500 мкм, 3, 10, 20, 30 мм |
| Атмосфера анализа | Воздух/вакуумирование; предварительное вакуумирование с двумя скоростями; система напуска гелия/азота (опция) |
| Аттенюатор | Автоматическое включение/выключение |
| Держатели образцов | 7 для массивных образцов, один для локального анализа |
| Детекторы | Сцинтилляционный счётчик (SC) для тяжелых элементов, Проточный пропорциональный счетчик (FPC) для лёгких элементов |
| Диапазон определяемых элементов | От Be по U, базовая комплектация от O по U |
| Контроль степени разрежения | Стабилизатор вакуума |
| Кристаллы-анализаторы | LiF (200), PET, Ge, TAP стандартные; LiF (220), SX-52, SX-1, SX-14, SX-88, SX-98, SX-76, SX-410 опции |
| Локальный анализ | 0,5 мм диаметр; цифровая камера для контроля области анализа (опция) |
| Облучение образца | Сверху; образец вращается со скоростью 60 об/мин |
| Первичные фильтры | Автоматическая смена 5 типов: Al, Ti, Ni, Zr, без фильтра |
| Первичные щели | Автоматическая смена 3 типов: стандарт, с высоким разрешением, с высокой чувствительностью |
| Размер образца (Диаметр х высота), мм | 51 х 38 |
| Рентгеновский генератор трубка, параметры | Rh-анод c тонким торцевым окном, мощность 4 кВт, опции: W, Pt, Cr аноды, 60 кВ, 150 мА |
| Система ввода образца | Маятникового типа, без динамических нагрузок |
| Система охлаждения | Двойной контур, внутренний замкнутый для охлаждения анода, внешний открытый/замкнутый. Рециркулятор воды (опция) |
| Система подачи газа для FPC | Электронный контроль плотности, потребление газа 5 см3/мин |
| Сменщик кристаллов | Автоматическая смена 10 кристаллов в двух направлениях |
Программное обеспечение
Локальный анализ
- Количественный анализ в точке, картирование с шагом 250 мкм, распределение по интенсивностям / концентрациям
Количественный анализ
- Метод фундаментальных параметров (ФП)
- Метод фоновых ФП для расчёта толщины и состава плёнок
- Метод калибровочных кривых
- Матричная коррекция (5 методов)
- Расчет коэффициентов матричной коррекции методом SFP
- Измерение интенсивностей пиков и интегральных интенсивностей
- Программа сопоставления состава по библиотекам пользователя
Качественный анализ
- Измерение линий высших порядков
- Автоматический контроль чувствительности
- Сглаживание, коррекция фона, поиск пиков и их автоматическаяидентификация, разделение пиков, расчёт фона по 16 точкам
- Редактирование пиков(добавление/вычитание, маркировка, листинг вероятных элементов для неизвестных пиков), наложение до 8 спектров, изменение шкалы измерений (угол2θ, длина волны, энергия, линейный и логарифмический масштабы интенсивности излучения)
Отчётность
- Дневной доклад, месячный доклад, статистическая обработка, передача данных по сети
Обслуживание
- Непрерывный мониторинг системы
Дополнительные периферийные устройства
- Система продувки гелием для анализа жидких проб
- Автоматический контроль чувствительности
- Циркуляционная система охлаждения рентгеновской трубки RKE1500A-V-SP: Orion (Япония)
- Автоматическая турель на 40 образцов ASF-40