40953 ФР.1.31.2009.06693 Методика измерений элементного состава образцов методом времяпролетной вторично-ионной масс-спектрометрии Шифр методики TOF SIMS

Аттестующая организация

НазваниеЗначение
Наименование аттестующей организацииФГУП "ВНИИМС"
Номер аттестата аккредитации№ 01.00225-2011
Адрес аттестующей организации119361, г. Москва, Озерная, 46
Телефон аттестующей организации437-55-77, факс:437-55-56
E-mail аттестующей организацииoffice@vniims.ru

Сведения о разработчике МВИ

НазваниеЗначение
Разработчик МВИУчреждение Российской Академии Наук Институт физики твердого тела РАН (ИФТТ)
Наименование разработчика МВИУчреждение Российской Академии Наук Институт физики твердого тела РАН (ИФТТ)

Сведения об аттестованной методике (методе) измерений

НазваниеЗначение
Номер в реестреФР.1.31.2009.06693
Раздел реестраВне сферы обороны
Вид методикиМетодика (метод) измерений
Назначение методикиИзмерение элементного и молекулярного состава твердофазных образцов
Наименование документа на методикуМетодика измерений элементного состава образцов методом времяпролетной вторично-ионной масс-спектрометрии Шифр методики TOF SIMS
№ свидетельства об аттестации702/01-09
Дата свидетельства об аттестации10.11.2009
Вид измеренийФизико-химические измерения
Метод измеренийМетод времяпролетной вторично-ионной масс-спектрометрии
Измеряемая величинаСм. Приложение
Пределы измеренийСм. Приложение
Характеристика погрешностиСм. Приложение
СтатусДействует

Вложения

НазваниеЗначение

Общие сведения

НазваниеЗначение
Номер записи40953
Дата опубликования18.04.2018