Синхронный термический анализатор STA 449 F3 (TGA/DSC)

Синхронный термический анализатор STA 449 F3 (TGA/DSC)

Cо встроенной, надежной, монолитной системой весов и высокочувствительными ДСК и ДТА сенсорами в современной конструкции STA 449 F3 Jupiter® является идеальной «рабочей лошадкой» для постоянных исследований и контроля качества. Специально разработанная контролирующая электроника и система сбора и обработки данных интегрирована в основной блок и легко подключается к персональному компьютеру. Вакуумплотная конструкция камеры образца обеспечивает работу в чистой газовой атмосфере с различными образцами, и, в частности, с негомогенными образцами.

Новый прибор синхронного термического анализа NETZSCH STA 449 F3 Jupiter® позволяет выполнять измерения изменения массы и тепловых эффектов, при температурах между -150°C и 2400°C.

Высокая универсальность в использовании вызвана возможностью применения различных сенсоров, широкой палитрой тиглей образцов и широким диапазоном для термогравиметрических измерений. Это делает систему применимой для анализ всех видов материалов, включая негомогенные.

Легко взаимозаменяемые держатели образца позволяют оптимально адаптировать систему для различных областей измерительных задач (ТГ, ТГ и ДТА, ТГ и ДСК). Различные печи, легко взаимозаменяемые пользователем, покрывают широкий температурный диапазон. Вакуумплотная конструкция прибора позволяет проводить измерения в различных атмосферах. Система управляется новым встроенным цифровым электронным устройством.Анализ измеряемых данных выполняется на стандартном персональном компьютере под операционной системой Windows®.

Запрос информациидокументацияБрошюра о наших продуктахКаталог запасных частей

Технические характеристики

(возможны изменения)

  • Температурный диапазон: -150°C ... 2400°C
  • Высокоскоростная печь (комн ... 1250°C) Вольфрамовая печь (комн ... 2400°C)
  • Скорость нагрева и охлаждения: 0.001 K/мин ... 50 K/мин (в зависимости от печи)
  • Диапазон масс: 35000 мг
  • Разрешение ТГ: 0,1 µg
  • Разрешение ДСК: < 1 мкВт (dependent on sensor)
  • Атмосфера: инертная, окислительная, статическая, динамическая
  • Клапан для 2-х продувочных и одного защитного газовКонтролер расхода газа для 3 газовых каналов (дополнительно)
  • Вакуумное разрешение до 10-4 мбар
TypeTemperature rangeCooling system
Silver furnace-120°C to 675°Cliquid nitrogen
Copper furnace-150°C to 500°Cliquid nitrogen
Steel furnace -150°C to 1000°Cliquid nitrogen
Platinum furnaceRT to 1500°Cforced air
Silicon carbide furnaceRT to 1600°Cforced air
Rhodium furnaceRT to 1650°Cforced air
Graphite furnaceRT to 2000°Ctap or chilled water
Water vapor furnaceRT to 1250°Cforced air
High-speed furnaceRT to 1250°Cforced air
Tungsten furnaceRT to 2400°Ctap or chilled water

Программное обеспечение

Прибор STA 449 F3 Jupiter® работает под управлением программного обеспечения Proteus® под Windows® 7,  Windows® 8.1 и Windows® 10. Программа Proteus® включает все необходимое для выполнения измерений и обработки полученных данных. Комбинация простых для понимания меню и автоматизированных подпрограмм позволяет проводить сложный анализ. Программное обеспечение Proteus® software лицензировано вместе с прибором и может быть инсталлировано на другие компьютерные системы.

Возможности термогравиметрии:

 

  • зменение массы в % или мг
  • Автоматическое определение стадий изменения массы
  • Определение остаточной массы
  • Определение температуры начала и конца потери массы на ТГ-кривой (экстраполяцией)
  • Температурный максимум 1-й и 2-й производной термогравиметрической кривой
  • Автоматическая коррекция базовой линии и выталкивающей силы
  • c-DTA® для расчетного сигнала ДТА с вычислением характеристических температур и площадей пиков (опция для ТГ измерений).

Вы можете использовать следующее программное обеспечение с данным продуктом

Proteus® Software, Программное обеспечение

Возможности дифференциального сканирующего калориметра:

  • Определение температуры начала, максимума, перегиба, конца теплового эффекта
  • Автоматический поиск пика
  • Тепловые эффекты переходов: определение площади пика (энтальпии) с выбранной базовой линией и парциальной площади пика и его ширины
  • Комплексный анализ переходов стеклования/расстекловывания
  • Автоматическая коррекция базовой линии
  • Определение параметров процесса кристаллизации
  • Определение индукционного времени окисления
  • Определение удельной теплоемкости (опционально)
  • BeFlat® для автоматической коррекции базовой линии ДСК (опционально)
  • Коррекция пика: определение тепловых эффектов при учете постоянных времени системы и теплового сопротивления (опционально)
  • Расширение ТМ-ДСК для температурно-модулированных ДСК измерений (опционально)