3
- 34549 ФР.1.38.2019.34549 Методика измерений отношений изотопов плутония 240Pu/239Pu, 241Pu/239Pu и 242Pu/239Pu в пробах атмосферных аэрозолей и осажденной пыли на масс-спектрометре с ионизацией в индуктивно-связанной плазме Thermo Scientific Element 2
- 35589 ФР.1.31.2013.15940 НЦВ – 002-2012 Количественный химический анализ. Методика измерений массовой концентрации ртути в пробах питьевых, природных, сточных, очищенных сточных вод атомно- эмиссионным методом с применением спектрометров серии ICAP 6000 D
- 39377 ФР.1.27.2011.11533 Методика измерений параметров шероховатости и топографии поверхности на контактном профилометре
4
- 40953 ФР.1.31.2009.06693 Методика измерений элементного состава образцов методом времяпролетной вторично-ионной масс-спектрометрии Шифр методики TOF SIMS
- 40958 ФР.1.31.2009.06707 «Методика измерений структурных характеристик материалов методом рентгеноструктурного анализа» Шифр методики Gemini
- 41275 ФР.1.27.2011.09320 Методика выполнения измерений линейных размеров объектов в режиме изображения и межплоскостных расстояний в режиме дифракции с помощью электронного микроскопа (ПЭМ) JEM-2100. Объект контроля –аттестованный тест объект из поликрист
- 41283 ФР.1.27.2009.06308 Методика рентгеноспектрального локального микроанализа элементного состава структурных составляющих материалов (растровый двулучевой электронно-ионный микроскоп Quanta 200 3D FEG, оснащенный рентгеновским энергодисперсионным спек
- 41308 ФР.1.27.2011.09318 Рекомендация «Метрические параметры поверхности. Методика выполнения измерений с помощью сканирующей зондовой нанолаборатории Ntegra Aura»
- 41309 ФР.1.27.2011.09319 Рекомендация «ГСИ. Метрические параметры поверхности. Методика выполнения измерений с помощью сканирующего зондового микроскопа Solver P47H»
- 42452 ФР.1.27.2011.09314 Методика выполнения измерений размеров частиц и распределения частиц по размерам для неэлектропроводящих частиц с помощью растрового электронного микроскопа
- 42452 ФР.1.27.2011.09314 Рекомендация «ГСИ. Размеры частиц и распределение частиц по размерам. Методика выполнения измерений с помощью растрового электронного микроскопа JSM-6460LV»