№
- №39377 ФР.1.27.2011.11533 Методика измерений параметров шероховатости и топографии поверхности на контактном профилометре
- №41837 ФР.1.27.2011.09317 Методика выполнения измерений линейных размеров элементов топологии микрорельефа поверхности твердотельных материалов с помощью микроскопа Quanta 200 3D
- №42452 ФР.1.27.2011.09314 Методика выполнения измерений размеров частиц и распределения частиц по размерам для неэлектропроводящих частиц с помощью растрового электронного микроскопа