Измерения размеров микро- и нано-структуры тонкопленочных образцов на просвечивающем электронном микроскопе Titan Themis

8 000.00 
Цена в баллах: 8000 баллов
+

Аналитическое исследование тестирование материалов на просвечивающем электронном микроскопе Titan Themis 200 c корректором сферической аберрации в режиме изображений и высокоскоростным энергодисперсионным рентгеновским микроанализатором. 

Прибор используется для измерений геометрических расстояний и размеров элементов микро- и ультраструктуры тонкопленочных образцов (ультратонких срезов ткани, залитой в полимер, и суспензий микрочастиц (вплоть до наноразмерных), нанесенных на полимерную пленку-подложку). Применяется в материаловедении, биологических, медицинских исследованиях, а также при оценке биобезопасности продукции наноиндустрии и нанотехнологий.

Оборудование:
Микроскоп электронный просвечивающий TITAN 80-300
Производитель:
FEI

СИ (48831-12.pdf, 143 Kb) [Скачать]