Исследование физико-химических свойств поверхности нанообъектов и наноструктур с помощью зондового микроскопа Solver P47H

Исследование физико-химических свойств поверхности нанообъектов и наноструктур с помощью современных методов зондовой микроскопии. Точность измерения перемещения (система сканирования) по вертикали 0,1 нм, в латеральном направлении – 1 нм.

Возможна работа в режиме АСМ и СТМ.

Возможность работы в контактном, прерывисто-контактном и бесконтактном режиме.

Производитель: ЗАО “НТ-МДТ”, Россия

Основные технические характеристики

Диффузионная длина (LD)
10 ÷ 2000 мкм при LD < t

Концентрация металла (Fe)
10⁹ ÷ 10¹³ см⁻³

Погрешность измерений:
15 ÷ 30 %

Методики измерений: 

  • ФР.1.27.2011.09319 Рекомендация «ГСИ. Метрические параметры поверхности. Методика выполнения измерений с помощью сканирующего зондового микроскопа Solver P47H»
  • ФР.1.27.2009.06694 «Методика измерений шероховатости поверхности образцов методом атомно-силовой микроскопии» Шифр методики SOLVER

Оборудование:
Микроскоп сканирующий зондовый Solver P47
Производитель:
ЗАО "НТ-МДТ"
Стандарт ГОСТ/ISO/ASTM:
41309 ФР.1.27.2011.09319 Рекомендация «ГСИ. Метрические параметры поверхности. Методика выполнения измерений с помощью сканирующего зондового микроскопа Solver P47H»

СИ (37834-08.pdf, 268 Kb) [Скачать]