Анализ химического строения твердых и жидких тел, механических напряжений в полупроводниках, характеризация углеродных нанотрубокотраслях промышленности, при исследовании полимеров на рамановском спектрометре MICRO-S-RAMAN

19 000.00 
Цена в баллах: 19000 баллов
+

Анализ химического строения твердых и жидких тел, механических напряжений в полупроводниках, характеризация углеродных нанотрубок. Применяется в полупроводниковой, химической, фармацевтической отраслях промышленности, при исследовании полимеров.

Прибор объединяет в себе растровый электронный микроскоп и растровый ионный микроскоп и оснащен системой локального нанесения С и W из газовой фазы. Электронная  пушка - на основе LaB6 эмиттера,  ионная пушка – на основе галлиевого жидкометаллического источника. Электронная пушка - на основе LaB6 эмиттера,  ионная пушка – на основе галлиевого жидкометаллического источника.

Основные технические характеристики

Источник оптического возбуждения He-Ne лазер
35мВт

Спектрограф SpectraPro 2750
750мм фокальная длина

ССD детектор охлаждаемый до -750С
2048х512

Система ввода излучения
оптоволоконная

Оптический микроскоп
OLYMPUS BX51

Производитель
Spectroscopy & Imaging, Германия

Оборудование:
Рамановский спектрометр высокого разрешения MICRO-S-RAMAN