Исследование морфологии поверхности на SEM сканирующем электронном микроскопе

9 000.00 
Цена в баллах: 9000 баллов
+

Описание лабораторного теста: Исследование морфологии поверхности на сканирующем электронном микроскопе

Используемое аналитическое оборудование: 

Растровый электронный микроскоп JEOL JSM-IT300LV с энерго- и волнодисперсионным элементным анализаторами

Микроскопы электронные растровые JSM IT300x  предназначены для количественного морфологического анализа и измерений линейных размеров микрорельефа поверхности твердотельных структур.


Микроскоп JEOL

Назначение

  • получение изображения поверхности с нанометровым разрешением;
  • локальное определение состава широкого спектра химических соединений и материалов (керамики, сплавы, полимеры, биологические образцы).

Технические характеристики

  • разрешение в режиме высокого вакуума: — 3,0 нм при ускоряющем напряжении 30кВ, — 15,0 нм при ускоряющем напряжении 1кВ;
  • разрешение в режиме низкого вакуума: 4,0нм при ускоряющем напряжении 30 кВ;
  • диапазон значений ускоряющего напряжения: от 300 В до 30 кВ;
  • диапазон увеличений: от 5 до 300000 крат в пересчете на размер отпечатка 10 x 12 см.

Оснащен

  • энергодисперсионным спектрометром (Oxford Inst.) — Пельтье-охлаждаемый (без использования жидкого азота), с площадью детектора 20 мм2, с энергетическим разрешением по Kα-линии марганца (ПШПВ) 127 эВ;
  • cпектрометром с дисперсией по длинам волн (Oxford Inst.) — полностью фокусированный, с радиусом окружности Роуланда 210 мм и диапазоном углов 2-тета гониометра от 33 до 135 градусов;
  • низковакуумным детектором вторичных электронов;
  • шлюзом для загрузки образцов.
Оборудование:
Растровый электронный микроскоп JEOL JSM-IT300LV
Отрасль промышленности:
Научные исследования
Производитель:
JEOL

Описание типа СИ JEOL JSM-IT300 (60731-15.pdf, 94 Kb) [Скачать]