Аналитическое исследование на качественный и количественный фазовый и структурный анализ порошков, тонких пленок, дисперсных систем

5 500.00 
Цена в баллах: 5500 баллов
+

Возможные тесты на приборе

  • Качественный и количественный фазовый анализ слоев в тонкопленочных структурах и дисперсных системах. 
  • Определение межплоскостных расстояний в кристаллических пленках в диапазоне линейных размеров от 0,004 до 10,000 нм. 
  • Определяемая массовая доля отдельной фазы 0,1-100,0%;
  • Определение микро- и макронапряжений в тонкопленочных структурах. 
  • Модуль определяемых трехосных напряжений 0-400,0 МПа. 
  • Определение профиля деформации в многослойных тонкопленочных структурах с пространственным разрешением 10 нм;
  • Определение преимущественной ориентации кристаллитов в тонких пленках в многослойных структурах.
Оборудование:
Дифрактометр рентгеновский многофункицональный SmartLab
Производитель:
Rigaku

СИ (75287-19.pdf, 90 Kb) [Скачать]

Методика поверки (mp_75287-19.pdf, 4,501 Kb) [Скачать]