Структурный анализ неорганических и металлоорганических кристаллов на рентгеновском монокристальном дифрактометре Xcalibur Gemini

5 000.00 
Цена в баллах: 5000 баллов
+

Измерение интенсивности и направления излучения, дифрагированного на кристаллическом объекте. Применяется для решения различных задач структурного анализа.

Область применения

  • Структурный анализ неорганических и металлоорганических кристаллов.

Особенности

  • Четырёхкружный каппа-гониометр с высокоточным шаговым двигателем с разрешение лучше 10 мкм, оптическими датчиками поворота и положения для точного позиционирования, управляемым расстоянием между образцом и детектором, с возможностью установки различных одно- и двуволновых рентгеновских трубок и CCD детекторов.
  • Детектор Eos, имеющий наиболее высокий коэффициент усиления в сравнении с CCD устройствами любых производителей (330 e-/X-ray)
  • Источник Mo рентгеновского излучения, включающий длиннофокусную керамическую рентгеновскую трубку (2,2..3 кВт), интегрированную быстродействующую заслонку излучения, предварительно настроенный монохроматор, монокаппилярные коллиматоры диметром 0,3..1,0 мм. Программное обеспечение CrysAlis Pro для интеллектуального сбора и обработки данных в области низкомолекулярной кристаллографии и кристаллографии белков. Программное обеспечение можно использовать в автоматическом, полуавтоматическом режиме или интерактивном режимах. Основу программного обеспечения CrysAlis Pro составляют модули автоматического скрининга кристаллов, сбора данных и стратегии работ. В дополнение к автоматическим процедурам программа CrysAlis Pro предоставляет сотни специальных инструментов и функций для работы с нестандартными и проблемными кристаллами. Программа CrysAlis Pro совместима с программами OLEX2, SHELX и другим программным обеспечением, включая MOSFLM и XDS.
  • Низкотемпературная приставка Cobra (Oxford Cryosystems) (80..400 K)

Рентгеновский монокристальный дифрактометр Xcalibur Gemini

Оборудование:
Рентгеновский монокристальный дифрактометр Xcalibur Gemini
Производитель:
Agilent Technologies
Стандарт ГОСТ/ISO/ASTM:
40958 ФР.1.31.2009.06707 «Методика измерений структурных характеристик материалов методом рентгеноструктурного анализа» Шифр методики Gemini

Брошюра (1090.pdf, 2,199 Kb) [Скачать]

Аттестованная методика измерений на дифрактометре Gemini (Gemini.pdf, 1,872 Kb) [Скачать]