Изучение морфологии поверхности образца на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEMс детектором обратно рассеянных электронов

30 000.00 
Цена в баллах: 30000 баллов
+

Изучение морфологии поверхности образца на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEMс детектором обратно рассеянных электронов

Оборудование:
Двухлучевой сканирующий электронный микроскоп Helios G4 Plasma FIB Uxe
Отрасль промышленности:
Научные исследования
Производитель:
Thermo Fisher Scientific