Анализ свойств тонких пленок на эллипсометре Horiba Uvisel 2

анализ тонких пленок, анализ свойств тонких пленок, исследования многослойных структур, тестирование композиционного состава пленок, тестирование пористости пленок, исследование шероховатости пленок, анализ полимерных пленок, тесты солнечных батарей

2 600.00 
+

Эллипсометр Uvisel позволяет проводить анализ, исследования, тестирования свойств тонких пленок, проводить моделирование широкого круга образцов: анализировать многослойные, анизотропные, градиентные структуры, определять композиционный состав пленок, пористость и шероховатость. В базу данных DeltaPsi2 входит более 100 материалов и более 30 дисперсионных формул, а также алгоритмы анализа композиционных материалов. Все это позволяет исследовать образцы различной природы: полупроводники, диэлектрики и металлы, например, такие, как полимерные пленки, просветляющие покрытия, солнечные батареи, оптоэлектронные устройства и другие. Диапазон длин волн 190-2100 нм; угол падения от 35 до 90°; точность определения показателя преломления n~0,002

Оборудование:
Сканирующий спектральный фазово-модуляционный эллипсометр UVISEL 2
Производитель:
HORIBA