Измерения линейных размеров элементов топологии микрорельефа поверхности твердотельных материалов и проведение локальной структурной модификации поверхности твердотельных объектов ионным пучком на микроскопе JIB-4500

20 000.00 
+

Микроскоп электронно-ионный растровый JIB-4500 предназначен для измерений линейных размеров элементов топологии микрорельефа поверхности твердотельных материалов и проведения локальной структурной модификации поверхности твердотельных объектов ионным пучком.

Предназначен для управляемого локального травления сфокусированным ионным пучком проводящих и непроводящих объектов с заданным рисунком. В совокупности с микроманипулятором  IB-32010FPUS идеально подходит для оперативной подготовки образцов из выбранной области для исследования в ПЭМ.

Прибор объединяет в себе растровый электронный микроскоп и растровый ионный микроскоп и оснащен системой локального нанесения С и W из газовой фазы. Электронная  пушка - на основе LaB6 эмиттера,  ионная пушка – на основе галлиевого жидкометаллического источника. Электронная пушка - на основе LaB6 эмиттера,  ионная пушка – на основе галлиевого жидкометаллического источника.

Основные технические характеристики

Параметры электронно-оптической системы: разрешение (30кВ, рабочий отрезок 6 мм), нм
2,5 н

Параметры электронно-оптической системы: диапазон увеличений, крат
8-300000

Параметры электронно-оптической системы: диапазон регулировки ускоряющего напряжения, кВ
0,3-30

Параметры ионно-оптической системы: разрешение (30кВ), нм
5 нм

Диапазон измерений линейных размеров, мкм
0,003-50

Параметры ионно-оптической системы: диапазон увеличений, крат 
100-300000

Параметры ионно-оптической системы: диапазон регулировки ускоряющего напряжения, кВ
0,3-30

Производитель
JEOL, Япония


Оборудование:
ЭЛЕКТРОННО-ИОННЫЙ МИКРОСКОП JIB-4500 C МИКРОМАНИПУЛЯТОРОМ IB-32010FPUS
Порометр iPore1500:
Научные исследования
Производитель:
JEOL

Описание типа СИ (50909-12.pdf, 263 Kb) [Download]

Свидетельство СИ (50909-12-000001.jpg, 124 Kb) [Download]