Количественный анализ элементного состава образца методом волнодисперсионной рентгенофлуоресцентной спектроскопии

6 000.00 
Цена в баллах: 6000 баллов
+

Описание лабораторного тестирования: Количественный анализ элементного состава образца методом волнодисперсионной рентгенофлуоресцентной спектроскопии

Используемое оборудование: Последовательный волнодисперсионный рентгенофлуоресцентный спектрометр Lab Center XRF-1800 (Shimadzu, Япония)

Для элементного анализа веществ и материалов в химической, пищевой, фармакологической, металлургической и других отраслях промышленности.

xfs

Прибор позволяет осуществлять качественный и количественный анализ в диапазоне от кислорода O до урана U за 2.5 минуты. В работе спектрометра реализован ряд новых патентованных технологий, например, качественный и количественный анализ с применением линий высших порядков, а также определение толщины и элементного состава плёнок органической природы методом фундаментальных параметров с использованием линий Комптоновского рассеяния.

Технические характеристики

  • диапазон определяемых элементов: от кислорода до урана;
  • рентгеновский генератор: Rh-анод с тонким торцевым окном, мощность 4 kW;
  • автосамплер: 8-позиционный;
  • облучение образца: cверху; образец вращается со скоростью 60 об/мин;
  • первичные фильтры: автоматическая смена Al/Ti/Ni/Zr/без фильтра;
  • апертуры: автоматическая смена 5 типов: 500 µm, 3, 10, 20, 30 mm;
  • локальный анализ: 0.5 mm диаметр, цифровая камера для контроля области анализа; количественный анализ в точке, картирование с шагом 250 µm, распределение по интенсивностям/концентрациям;
  • сменщик кристаллов: автоматическая смена 10 кристаллов в двух направлениях;
  • кристаллы-анализаторы: LiF (200), PET, Ge, ТАР стандартные; LiF (220), SX-52, SX-1, SX-14, SX-88, SX-98, SX-76, SX-410 (опционально);
  • детекторы: Сцинтилляционный счётчик (SC) для тяжёлых элементов, проточный пропорциональный счётчик (FPC) для лёгких элементов;
  • контроль степени разрежения: стабилизатор вакуума.

Количественный анализ

  • метод фундаментальных параметров (ФП);
  • метод фоновых ФП для расчёта толщины и состава плёнок;
  • метод калибровочных кривых;
  • матричная коррекция (5 методов);
  • расчет коэффициентов матричной коррекции методом SFP;
  • измерение интенсивностей пиков и интегральных интенсивностей;
  • программа сопоставления состава по библиотекам пользователя.

Качественный анализ

  • измерение линий высших порядков;
  • автоматический контроль чувствительности;
  • сглаживание, коррекция фона, поиск пиков и их автоматическая идентификация, разделение пиков, расчёт фона по 16 точкам;
  • редактирование пиков (добавление/вычитание, маркировка, листинг вероятных элементов для неизвестных пиков), наложение до 8 спектров, изменение шкалы измерений (угол 2θ, длина волны, энергия, линейный и логарифмический масштабы интенсивности излучения).
Оборудование:
Последовательный волнодисперсионный рентгенофлуоресцентный спектрометр Lab Center XRF-1800
Отрасль промышленности:
Научные исследования
Производитель:
Shimadzu

XRF-1800 (XRF-1800-flyer-03.15.pdf, 211 Kb) [Скачать]

Описание типа СИ Shimadzu XRF-1800 (50284-12.pdf, 274 Kb) [Скачать]