Исследование поверхности методами оптической микроскопии на универсальном микроскопе отраженного света Carl Zeiss Axioplan 2

1 000.00 
В наличии
+

Исследование поверхности методами оптической микроскопии на универсальном микроскопе отраженного света Carl Zeiss Axioplan 2

Микроскопы проходящего и отраженного света, они реализовывают все методы исследования и контрастирования, присущие этим способам освещения. Темное поле в отраженном свете с помощью эпи-объективов высокого класса и специальных конструкций гарантируют высокое качество и контраст в отраженном свете. Устойчивый штатив не выглядит массивным. В данном случае конструкция в виде "пирамиды" позволяет разместить элементы механического и электронного управления микроскопами компактно.

Оборудование:
Универсальный микроскоп отраженного света Axioplan 2
Производитель:
Carl Zeiss