Лабораторное исследование, получение нано- и микро-изображений, спектральный точечный тест на электронном сканирующем микроскопе JSM-6490LV

Лабораторное исследование, получение нано- и микро-изображений, спектральный точечный тест на электронном сканирующем микроскопе JSM-6490LV

5 200.00 
+

Анализ, исследование, получение изображений, спектральный точечный анализ на растровом электронном микроскопе JEOL JSM-6490 LV + энергодисперсионный спектрометр Quantax XFlash 6 с модульной системой дифракции обратнорассеянных электронов QUANTAX CrystAlign 200

Микроскоп электронный сканирующий JSM-6490LV (далее по тексту - микроскоп) предназначен для измерения масштабного коэффициента видеоизображения при помощи получения изображения поверхности объекта с высоким пространственным разрешением, а также для элементного анализа и элементного картирования при малых увеличениях.

Принцип действия микроскопа основан на взаимодействии электронного пучка с исследуемым веществом. Поверхность образца сканируется электронным лучом, и образующиеся при этом обратнорассеянные электроны, несут информацию о топографии поверхности, а также физических и химических свойствах образца. Эти электроны, несущие вышеуказанную информацию, летят с различных направлений и детектируются полупроводниковыми элементами, расположенными симметрично относительно оптической оси. При этом количественные изменения детектируемых электронов в процессе сканирования преобразуются в электрические сигналы. Два сигнала от детекторных элементов усиливаются предусилителем и поступают в операционный усилитель. Операционный усилитель дополнительно усиливает эти сигналы и одновременно производит их сложение и вычитание. Суммарный сигнал используется в качестве видеосигнала для формирования композиционного изображения, а разностный сигнал служит видеосигналом для формирования топографического изображения. Детектирование обратнорассеянных электронов, несущих информацию о неоднородности поверхности образца и распределении на ней составных элементов, позволяет наблюдать изображение поверхности образца.


Оборудование:
Микроскоп электронный сканирующий JSM-6490LV
Производитель:
JEOL
Стандарт ГОСТ/ISO/ASTM:
42452 ФР.1.27.2011.09314 Методика выполнения измерений размеров частиц и распределения частиц по размерам для неэлектропроводящих частиц с помощью растрового электронного микроскопа

СИ (52316-12-000001.jpg, 103 Kb) [Download]

Методика поверки (52316-12.pdf, 268 Kb) [Download]