Исследование топографии поверхности с суб-нанометровым разрешением, исследование свойств поверхности, профилометрия на сканирующем атомно силовом микроскопе P100

5 000.00 
Цена в баллах: 5000 баллов
В наличии
+

Атомно силовой микроскоп P100/P150 обладает возможностью проводить сканирование образцов с субнанометровым разрешением по оси Z , микроскоп P100 / P150 может быть использован для получения и анализа изображений с высокой разрешающей способностью. Интегрированный сканер с низким уровнем шума и с открытым контуром позволяет быстро и эффективно проводить эксперименты на 15 мкм на 15 мкм. Наш уникальный астигматический оптический дизайн работает с небольшим 0,56 мкм лазерным пятном, позволяет пользователям экспериментировать с более мелкими и быстрыми консолями АСМ. В комплекте с сканирующим микроскопом P100 / P150 используется наше интуитивно понятное управляющее программное обеспечение PSX, которая позволяет пользователю проводить эксперименты с минимальным уровнем подготовки. Наша программа позволяет проводить сканированик в один клик, что автоматизирует процесс настройки и проверки, что в свою очередь позволяет пользователям быстро получать качественные результаты сканирования. Встроенная функция управления библиотекой сканированных данных упрощает работу с ними и позволяет пользователю легко оперировать массивами значений.

Основные Характеристики

  • Разрешение по оси Z - 0.12 нм
  • Размер пятна лазера - 0.56 мкм
  • Разомкнутый контур сканирования диапазона - 15 мкм х 15 мкм

P100

Оборудование:
Сканирующий атомно силовой микроскоп P100/P150
Производитель:
Radonika