Анализ топографии поверхности и получение 3D изображений образца на лазерном конфокальном сканирующем микроскопе Lasertech VL2000DX

Анализ топографии поверхности и получение 3D изображений образца на лазерном конфокальном сканирующем микроскопе

10 000.00 
В наличии
+

Наблюдение и измерение топографии поверхности различных образцов в микронном масштабе. Позволяет получать 3D изображение поверхности образца, при диапазоне температур от -100С до +1800С.

Возможности анализа на лазерном микроскопе

  • Конфокальная оптика позволяет наблюдать образцы в движущихся изображениях при большом увеличении и высоком контрасте без интерференции лучистого света высокой интенсивности при высоких температурах.
  • Температуру образца можно контролировать в диапазоне от -100 до 1800 градусов Цельсия.
  • Возможно наблюдение с увеличением до 3000x (на 21-дюймовом мониторе).
  • Функция дифференциальной интерференции (опция) позволяет визуализировать мелкие неровности поверхности.
  • Получение изображений с высоким разрешением с помощью фиолетового лазера 405 нм
  • 10-часовая запись и воспроизведение видео

Кроме того, возможно проведение следующих типов анализов

  • Наблюдение за движущимися изображениями таких образцов, как сталь, металлы, керамика, другие материалы и полупроводниковые пластины при чрезвычайно высоких температурах
  • Наблюдение за движущимся изображением различных материалов при испытаниях на нагрев / растяжение
  • 3D-анализ различных поверхностей образцов


Оборудование:
Ультравысокотемпературный конфокальный сканирующий лазерный микроскоп VL2000DX-SVF17SP