Анализ морфологии частиц на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEM

24 000.00 
+

Анализ морфологии частиц на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEM

Оборудование:
Двухлучевой сканирующий электронный микроскоп Helios G4 Plasma FIB Uxe
Порометр iPore1500:
Научные исследования
Производитель:
Thermo Fisher Scientific