Элементы обозначенные тегом "элементный анализ":

Анализ воды из колодца по 16 показателям: ph, мутность, перманганатная окисляемость, сухой остаток, УЭП, цветность и др.

Микроскоп двухлучевой электронно-ионный сканирующий Helios G4 PFIB UXe предназначен для измерений линейных размеров элементов микро- и нанорельефа поверхности твердотельных образцов, исследования их элементного состава и кристаллографической структуры, проведения локальной структурной модификации поверхности твердотельных объектов сфокусированным пучком ионов Xe, а также подготовки поперечных срезов для просвечивающего электронного микроскопа.

Выполнение спектрального анализа Al, Ba, Bi, Cr элементов в твердых пробах на атомно-эмиссионном спектрометре ICPE-9000 (комплект 10 образцов) 

Выполнение спектрального анализа Ca, Mg элементов в твердых пробах на атомно-эмиссионном спектрометре ICPE-9000 (комплект 10 образцов) 

Выполнение спектрального анализа Cd, Co , Cu, Fe, Mn, Ni, Pb, Zn элементов в твердых пробах на атомно-эмиссионном спектрометре ICPE-9000 (комплект 10 образцов)

Выполнение спектрального анализа K, Li, Na, Sr элементов в твердых пробах на атомно-эмиссионном спектрометре ICPE-9000 (комплект 10 образцов)

Выполнение спектрального анализа одного элемента на  выбор в твердых пробах на атомно-эмиссионном спектрометре ICPE-9000 (комплект 10 образцов) 

Выполнение спектрального анализа одного элемента на выбор в жидкой пробе на атомно-эмиссионном спектрометре ICPE-9000 (комплект 10 образцов)

Выполнение спектрального анализа элементов Al, В, Вi, Cd, Co, Cr, Cu, Mn, Ni, Pb, Zn в жидкой пробе на атомно-эмиссионном спектрометре ICPE-9000 (комплект 10 образцов)

Выполнение спектрального анализа элементов Ba, Ca, Fe, Li, Mg, Sr в жидкой пробе на атомно-эмиссионном спектрометре ICPE-9000 (комплект 10 образцов) 

Выполнение спектрального анализа элементов Ga, In, Tl в жидкой пробе на атомно-эмиссионном спектрометре ICPE-9000 (комплект 10 образцов) 

Выполнение спектрального анализа элементов K, Na в жидкой пробе на атомно-эмиссионном спектрометре ICPE-9000 (комплект 10 образцов)

Изучение морфологии, микроструктуры, размера частиц, толщины пленок, гетероструктур их элементного и фазового составов, кристаллографической ориентировки зерен

Для измерения оптических спектров пропускания, отражения в ИК диапазоне, определения концентрации различных органических и неорганических веществ в твердой и жидких фазах, продукции нефтехимического производства, органического синтеза, продуктах питания, фармацевтики и т.п., для применения в качестве отдельных автономных приборов, так и в составе автоматизированных систем управления качеством технологического процесса в аналитических лабораториях промышленного производства, научно-исследовательских и учебных организаций.

Исследование морфологии частиц на сканирующем электронном микроскопе с возможностью работы в низком вакууме SEM Quattro S 

Для измерения оптических спектров пропускания, отражения в ИК диапазоне, определения концентрации различных органических и неорганических веществ в твердой и жидких фазах, продукции нефтехимического производства, органического синтеза, продуктах питания, фармацевтики и т.п., для применения в качестве отдельных автономных приборов, так и в составе автоматизированных систем управления качеством технологического процесса в аналитических лабораториях промышленного производства, научно-исследовательских и учебных организаций.

Исследование примесного состава газо- и жидкофазных систем методом ИК-фурье-спектроскопии высокого разрешения на приборе Bruker IFS-125HR

Исследование элементного анализа концентраций матричного состава посредством атомно-эмиссионного микроскопа Carl Zeiss AAS-3

 В спектрофотометре используется метод атомно-абсорбционного спектрального анализа с использованием пламенной атомизации. Для анализа используется тип пламени «ацетилен - воздух». Принцип действия спектрофотометра основан на спектрально - селективном поглощении излучения атомов определяемого элемента, находящегося в свободном состоянии (атомный пар). Поглощательная способность атомного пара находится в прямой зависимости от концентрации химического элемента, поступающего в систему атомизации. 

Определение примесного состава высокочистых веществ и материалов  методами атомно-эмиссионной спектрометрии с индуктивно связанной плазмой на приборе Thermo iCAP 6300 Duo

Исследование элементного состава образца на сканирующем электронном микроскопе с возможностью работы в низком вакууме Quattro S

Картирование элементного состава образца с использованием методики энергодисперсионной спектроскопии EDX с атомным разрешением по 3 областям на просвечивающем электронном микроскопе Titan Themiz S с пробкорректором

Качественные анализы и количественные измерения химического и элементного состава органических и неорганических веществ на хромато-масс-спектрометре GCMS-QP2010 Ultra

Количественное определение хлора в образцах с помощью элементного анализатора MultiEA-5000 (5 комплектов образцов)

Количественный CHNOS-элементный анализ твердых и жидких органических соединений

Количественный CHNS-элементный анализ твердых и жидких органических соединений

Количественный анализ элементного состава образца методом энергодисперсинной рентгенофлуоресцентной спектроскопии

Количественный без эталонный анализ элементного состава образца методом волнодисперсионной рентгенофлуоресцентной спектроскопии с использованием метода фундаментальных параметров

Количественный без эталонный анализ элементного состава образца методом энергодисперсинной рентгенофлуоресцентной спектроскопии с использованием метода фундаментальных параметров

Количественный морфологический анализ и измерение линейных размеров микрорельефа поверхности твердотельных структур.

Применяется в материаловедении, микроэлектронике и полупроводниковых технологиях, геологии, биологии, медицине, металлургии. Оснащен автоэмиссионным катодом холодного типа.

Микроскоп обеспечивает работу в режимах регистрации вторичных,  отраженных электронов и в режиме «напросвет».

Основные технические характеристики

Разрешение при ускоряющем напряжении 15кВ   
1нм

Разрешение при ускоряющем напряжении 1кВ
1,5 нм

Эффективный диаметр электронного зонда во вторичных электронах при 15кВ
не более 10 нм.

Диапазон регулировки увеличения
30¸800000 крат.

Диапазон измерения линейных размеров
0,02¸10000 мкм

Погрешность измерений линейных размеров не более
5 %.

Диапазон регулировки ускоряющего напряжения
0,1¸30 кВ

Производитель:
Hitachi, Япония

Количественный морфологический анализ и измерение линейных размеров микрорельефа поверхности твердотельных структур, элементный анализ от В до U на растровом электронном микроскопе JSM-6460LV и микроприставкой INCAX-SIGHT

Лабораторное тестирование токсичных элементов в пищевой продукции и продовольственном сырье

Определение концентрации одного элемента в жидкой пробе масс спектральным методом с индуктивно связанной плазмой

Определение концентрации одного элемента в твердой пробе масс спектральным методом с индуктивно связанной плазмой

Определение общего органического углерода с помощью элементного анализатора MultiEA-5000 (5 комплектов образцов)

Для идентификации веществ на основе оптических спектров в инфракрасной области, количественного химического анализа органических и неорганических веществ, применяются в пищевой, фармацевтической, биохимической, химической отраслях промышленности в здравоохранении, аналитическом контроле, научных исследованиях.

Проведение анализа элементного состава твердых и жидких образцов рентгенофлуоресцентным спектрометром EDX3600

Проведение полного элементного анализа и измерение концентраций химических элементов на рентгенофлуоресцентном спектрометре ARL OPTIM’X

Проведение спектрального элементного анализа одного элемента в жидкой пробе на атомно-абсорбционном спектрометре со сжиганием в печи (комплект из 5 образцов)

Проведение спектрального элементного анализа одного элемента в жидкой пробе на атомно-абсорбционном спектрометре со сжиганием в пламени (комплект из 5 образцов)

Проведение спектрального элементного анализа одного элемента в твердой пробе на атомно-абсорбционном спектрометре со сжиганием в пламени (комплект из 5 образцов)

Проведение спектрального элементного анализа одного элемента твердой пробы на атомно-абсорбционном спектрометре со сжиганием в печи (комплект из 5 образцов) 

Проведение элементного анализа образца по 5 точкам на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEM

Рентгенофлуоресцентный спектральный выездной анализ металлов, руд, почв на портативном переносном рентгеновском спектрометре Explorer Skyray Instrument

Рентгенофлуоресцентный метод спектрального анализа основан на сборе и анализе спектра, полученного после возбуждения характеристического рентгеновского излучения, которое возникает при переходе атома из возбуждённого в основное состояние. Атомы разных элементов испускают фотоны со строго определёнными энергиями, измерив которые можно определить качественный элементный состав. Для измерения количества элемента регистрируется интенсивность излучения с определённой энергией.

Аналитический метод анализа: Энергодисперсионный рентгеновской флуоресцентный

Измеряемые элементы, диапазон атомного номера от 12 до 92 [элементы от магния (Mg) до урана (U)] могут быть измерены

Одновременный анализ: до 40 элементов

Микрокомпьютер: настроенная система; CPU: 1G; Системная память: 1G; Расширение до 32G; Стандарт 4G

Аналитический диапазон: 1 ppm ~ 99,99>#/p###

Время анализа: 1 ~ 60 секунд

Встроенная система: GPS, WiFi, Bluetooth

Источник Питания: Аккумуляторная литиевая батарея, стандарт 9000mAh, устойчивое время работы до 12 часов; опционально 27000mAh superbattery с широким напряжением 110V ~ 220V, универсальный адаптер для подзарядки питания

Анализируемые материалы: твердые, жидкие вещества, порошки

Детектор: Кремниевый SDD или Fast-SDD детектор (опционально)

Минимальное разрешение детектора может достигать 128eV

Источник возбуждения: интегрированная миниатюрная серебрянная рентгеновская лучевая трубка 50кВ / 200uA и высоковольтный источник питания

Коллиматоры и фильтры: диаметры коллиматорв 4,0 мм и 2,0 мм, 6 видов фильтров с автоматическим переключением

Видеосистема: 5mpx пикселей камера высокого разрешения

Экран дисплея: Новый 5-дюймовый сенсорный экран трансфлективный ЖК-дисплей, разрешение 1080 x 720

Предел обнаружения: минимальные пределы обнаружения 1 ~ 500 ppm

Диапазон рабочих температур: от -20 до +50°C.

Габариты и вес:

Размеры инструмента 244мм (длина) x 90 мм (ширина) x 300 мм (высота)

Вес : 1,7 кг

Элементный CHNS анализ твердых проб (5 комплектов образцов)

Элементный анализ жидких проб (CNS) (5 комплектов образцов) элементный анализ, анализ жидких проб, анализ углерода, элементный анализатор, тестирование серы, анализ водорода, исследование органики, количественный анализ кислорода, определение углерода, анализ концентрации хлора

Элементный анализ микрообъектов с использованием метода сканирующей электронной микроскопии

Элементный анализ образца с картированием по 3 областям на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe FPIB/SEM