Москва

Поиск

+7(495)661-61-09Пн-Пт: 9:00-18:00
Заказать обратный звонок

Микроскопические тесты и исследования

Оптическая микроскопия, атомно-силовая микроскопия, сканирующая электронная микроскопия, просвечивающая электронная микроскопия, лазерные микроскопические конфокальные исследования, акустическая микроскопия, металлографический анализ

Сортировать по алфавиту: от А до Я
50 На страницу
Анализ микро- и наноструктуры твердотельных объектов, измерение линейных размеров деталей структуры, наблюдаемых на изображении, и межплоскостных расстояний в режиме дифракции на просвечивающем электронном микроскопе JEM-2100
18 000.00 ₽
Просмотр
Анализ морфологии частиц на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEM
24 000.00 ₽
Просмотр
Анализ поверхности материалов и образцов методами оптической микроскопии на прямом микроскопе Carl Zeiss Axio Imager M2
4 000.00 ₽
Просмотр
Анализ топографии поверхности и получение 3D изображений образца на лазерном конфокальном сканирующем микроскопе Lasertech VL2000DX
12 000.00 ₽
Просмотр
Аренда двухлучевого сканирующего электронного микроскопа Helios G4 Plasma FIB Uxe (с оператором ЦКП) за час
16 000.00 ₽
Просмотр
Аренда Просвечивающего (сканирующего) электронного микроскопа Titan Themis Z (с оператором ЦКП) за час
20 000.00 ₽
Просмотр
Аренда сканирующего электронного микроскопа Quattro S с возможностью работы в низком вакууме (с оператором ЦКП) за час
9 000.00 ₽
Просмотр
Биологические, медицинские, криминалистические исследования и тесты на микроскопе Carl Zeis Axio Scope 1
5 000.00 ₽
Просмотр
Визуализация многослойных структур и гетероструктур с атомарным разрешением на просвечивающем электронном микроскопе Titan Themis Z
130 000.00 ₽
Просмотр
Визуализация наночастиц с использованием электронной томографии на просвечивающем электронном микроскопе Titan Themiz S с пробкорректором
222 000.00 ₽
Просмотр
Денситометрические, флуоресцентные и колориметрические анализы и исследования гелей, мембран, нуклеиновых кислот на системе документации гелей Gel Doc XR Plus
5 000.00 ₽
Просмотр
Изготовление и визуализация кросс секции на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEM
32 000.00 ₽
Просмотр
Измерения линейных размеров элементов топологии микрорельефа поверхности твердотельных материалов и проведение локальной структурной модификации поверхности твердотельных объектов ионным пучком на микроскопе JIB-4500
20 000.00 ₽
Просмотр
Измерения размеров микро- и нано-структуры тонкопленочных образцов на просвечивающем электронном микроскопе Titan Themis
8 000.00 ₽
Просмотр
Изучение зеренной структуры образца с определением плотности дислокаций на просвечивающем электронном микроскопе Titan Themis Z
99 000.00 ₽
Просмотр
Изучение кристаллографической ориентировки зеренной структуры на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEM
Свяжитесь с нами насчёт цены
Просмотр
Изучение многослойных структур в режиме СПЭМ, включая исследование элементного состава образца по линии на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe FPIB/SEM
60 000.00 ₽
Просмотр
Изучение морфологии и поверхности образца на сканирующем электронном микроскопе Quattro с низким вакуумом и детектором обратно рассеянных электронов
20 000.00 ₽
Просмотр
Изучение морфологии наночастиц в ПЭМ и СПЭМ режимах на просвечивающем электронном микроскопе с пробкорректором Titan Themis Z
60 000.00 ₽
Просмотр
Изучение морфологии поверхности образца на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEMс детектором обратно рассеянных электронов
30 000.00 ₽
Просмотр
Исследование кристаллической структуры образца с применением электронной дифракции на просвечивающем электронном микроскопе Titan Themis Z
112 000.00 ₽
Просмотр
Исследование морфологии поверхности на SEM сканирующем электронном микроскопе
9 000.00 ₽
Просмотр
Исследование морфологии частиц на сканирующем электронном микроскопе с возможностью работы в низком вакууме SEM Quattro S
14 000.00 ₽
Просмотр
Исследование на акустическом микроскопе для объемных структур KSI v-350lm
4 800.00 ₽
Просмотр
Исследование образца методом атомно-силовой микроскопии в воздушной среде
5 500.00 ₽
Просмотр
Исследование образца методом атомно-силовой микроскопии в жидкой среде
14 200.00 ₽
Просмотр
Исследование образца методом оптической микроскопии на микроскопе высокого разрешения Imager Carl Zeiss
3 500.00 ₽
Просмотр
Исследование поверхности методами оптической микроскопии на универсальном микроскопе отраженного света Carl Zeiss Axioplan 2
2 000.00 ₽
Просмотр
Исследование поверхности, исследование топографии микро- и нанообъектов на сканирующем электронном микроскопе Philips SEM515
9 800.00 ₽
Просмотр
Исследование топографии поверхности с суб-нанометровым разрешением, исследование свойств поверхности, профилометрия на сканирующем атомно силовом микроскопе P100
6 000.00 ₽
Просмотр
Исследование физико-химических свойств поверхности нанообъектов и наноструктур с помощью зондового микроскопа Solver P47H
19 000.00 ₽
Просмотр
Исследование физико-химических свойств поверхности нанообъектов и наноструктур, проведение АСМ и СТМ анализа образцов в жидкостях на сканирующей зондовой лаборатории NTEGRA AURA
19 000.00 ₽
Просмотр
Исследование флуоресценции нативных и окрашенных биологических структур на Флуоресцентном микроскопе AxioImager M1
5 000.00 ₽
Просмотр
Исследование элементного состава образца на сканирующем электронном микроскопе с возможностью работы в низком вакууме Quattro S
14 000.00 ₽
Просмотр
Исследование элементного состава образца с картированием по 3 областям на сканирующем электронном микроскопе Quattro с возможностью работы в низком вакууме
24 000.00 ₽
Просмотр
Исследование элементного состава образца, включая легкие элементы, с использованием спектроскопии энергетических потерь электронов на просвечивающем электронном микроскопе Titan Themiz S
99 000.00 ₽
Просмотр
Картирование элементного состава образца с использованием методики энергодисперсионной спектроскопии EDX с атомным разрешением по 3 областям на просвечивающем электронном микроскопе Titan Themiz S с пробкорректором
145 000.00 ₽
Просмотр
Количественный морфологический анализ и измерение линейных размеров микрорельефа поверхности твердотельных структур на SEM микроскопе S-4800
18 000.00 ₽
Просмотр
Количественный морфологический анализ и измерение линейных размеров микрорельефа поверхности твердотельных структур, элементный анализ от В до U на растровом электронном микроскопе JSM-6460LV и микроприставкой INCAX-SIGHT
18 000.00 ₽
Просмотр
Конфокальная лазерная микроскопия, предназначены для исследования различных твердых объектов в биологии, медицине, материаловедении в трехмерном изображении на сканирующем микроскопе LSM 5, Bruker
6 000.00 ₽
Просмотр
Лабораторное исследование, получение нано- и микро-изображений, спектральный точечный тест на электронном сканирующем микроскопе JSM-6490LV
5 200.00 ₽
Просмотр
Лабораторный тест на атомно-силовом микроскопе SmartSPM
9 800.00 ₽
Просмотр
Нанесение токопроводящих покрытии для исследования образца методом электронной микроскопии
3 000.00 ₽
Просмотр
Определение элементного состава микроучастка поверхности на растровом электронном микроскопе с помощью приставок для волнодисперсионного или энергодисперсионного ренгенофлуоресцентного анализа
20 000.00 ₽
Просмотр
Определение элементного состава с использованием методики энергодисперсионной рентгеновской спектроскопии с картированием по 3 областям на ПЭМ микроскопе Titan Themis Z с пробкорректором
75 000.00 ₽
Просмотр
Оптический микроскопический тест лабораторное исследование с возможностью документирования на микроскопе PrimoStar пр-ва Carl Zeiss
5 000.00 ₽
Просмотр
Получение изображения поверхности образца методом сканирующей электронной микроскопии
10 800.00 ₽
Просмотр
Получение снимка поверхности на SEM растровом электронном микроскопе
9 000.00 ₽
Просмотр
Приготовление тонких срезов образцов для исследования методом электронной микроскопии
3 000.00 ₽
Просмотр
Проведение элементного анализа образца по 5 точкам на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEM
34 000.00 ₽
Просмотр
 Назад
1 2
Вперед