Москва

Поиск

+7(495)661-61-09Пн-Пт: 9:00-18:00
Заказать обратный звонок

Микроскопические тесты и исследования

Оптическая микроскопия, атомно-силовая микроскопия, сканирующая электронная микроскопия, просвечивающая электронная микроскопия, лазерные микроскопические конфокальные исследования, акустическая микроскопия, металлографический анализ

Сортировать по алфавиту: от А до Я
12 На страницу
Исследование образца методом атомно-силовой микроскопии в воздушной среде
5 500.00 ₽

Исследование образца методом атомно-силовой микроскопии в воздушной среде

+ −
Купить в один клик
Исследование образца методом атомно-силовой микроскопии в жидкой среде
14 200.00 ₽

Исследование образца методом атомно-силовой микроскопии в жидкой среде

+ −
Купить в один клик
Исследование образца методом оптической микроскопии на микроскопе высокого разрешения Imager Carl Zeiss
3 500.00 ₽

Исследование образца методом оптической микроскопии на микроскопе высокого разрешения Imager Carl Zeiss

+ −
Купить в один клик
Исследование поверхности методами оптической микроскопии на универсальном микроскопе отраженного света Carl Zeiss Axioplan 2
2 000.00 ₽

Микроскопы проходящего и отраженного света, они реализовывают все методы исследования и контрастирования, присущие этим способам освещения. Темное поле в отраженном свете с помощью эпи-объективов высокого класса и специальных конструкций гарантируют высокое качество и контраст в отраженном свете. Устойчивый штатив не выглядит массивным. В данном случае конструкция в виде "пирамиды" позволяет разместить элементы механического и электронного управления микроскопами компактно.

+ −
Купить в один клик
Исследование поверхности, исследование топографии микро- и нанообъектов на сканирующем электронном микроскопе Philips SEM515
9 800.00 ₽
Исследование поверхности, исследование топографии микро- и нанообъектов на сканирующем электронном микроскопе Philipls SEM515
+ −
Купить в один клик
Исследование топографии поверхности с суб-нанометровым разрешением, исследование свойств поверхности, профилометрия на сканирующем атомно силовом микроскопе P100
6 000.00 ₽

Атомно силовой микроскоп P100/P150 обладает возможностью проводить сканирование образцов с субнанометровым разрешением по оси Z , микроскоп P100 / P150 может быть использован для получения и анализа изображений с высокой разрешающей способностью. Интегрированный сканер с низким уровнем шума и с открытым контуром позволяет быстро и эффективно проводить эксперименты на 15 мкм на 15 мкм. 

+ −
Купить в один клик
Исследование физико-химических свойств поверхности нанообъектов и наноструктур с помощью зондового микроскопа Solver P47H
19 000.00 ₽

Исследование физико-химических свойств поверхности нанообъектов и наноструктур с помощью современных методов зондовой микроскопии. Точность измерения перемещения (система сканирования) по вертикали 0,1 нм, в латеральном направлении – 1 нм.

Возможна работа в режиме АСМ и СТМ.

Возможность работы в контактном, прерывисто-контактном и бесконтактном режиме.

Производитель: ЗАО “НТ-МДТ”, Россия

Основные технические характеристики

Диффузионная длина (LD) 10 ÷ 2000 мкм при LD < t

Концентрация металла (Fe) 10⁹ ÷ 10¹³ см⁻³

Погрешность измерений: 15 ÷ 30 >#/p###

+ −
Купить в один клик
Исследование физико-химических свойств поверхности нанообъектов и наноструктур, проведение АСМ и СТМ анализа образцов в жидкостях на сканирующей зондовой лаборатории NTEGRA AURA
19 000.00 ₽
Модульная структура позволяет проводить исследования образцов в жидкостях. Возможность работы в контактном, прерывисто-контактном и бесконтактном режиме....
+ −
Купить в один клик
Исследование флуоресценции нативных и окрашенных биологических структур на Флуоресцентном микроскопе AxioImager M1
5 000.00 ₽
Научно-исследовательский микроскоп Axio Imager предназначен для широкого спектра исследований в клеточной биологии, неврологии, молекулярной генетики и...
+ −
Купить в один клик
Исследование элементного состава образца на сканирующем электронном микроскопе с возможностью работы в низком вакууме Quattro S
14 000.00 ₽

Исследование элементного состава образца на сканирующем электронном микроскопе с возможностью работы в низком вакууме Quattro S

+ −
Купить в один клик
Исследование элементного состава образца с картированием по 3 областям на сканирующем электронном микроскопе Quattro с возможностью работы в низком вакууме
24 000.00 ₽
Исследование элементного состава образца с картированием по 3 областям на сканирующем электронном микроскопе Quattro  с возможностью работы в низком...
+ −
Купить в один клик
Исследование элементного состава образца, включая легкие элементы, с использованием спектроскопии энергетических потерь электронов на просвечивающем электронном микроскопе Titan Themiz S
99 000.00 ₽
Исследование элементного состава образца, включая легкие элементы, с использованием спектроскопии энергетических потерь электронов (EELS) (получение...
+ −
Купить в один клик
 Назад
1 2 3 4 5
Вперед