Каталог услуг

43.81

Геометрические измерения в X Y Z плоскости с точностью до 1 мкм на видеоизмерительной машине

+

32.86

Гидролиз белка (образец до 100 мкг) трипсином в растворе/в геле

+

43.81

Гидролиз белка (образец до 100 мкг) трипсином по протоколу FASP

+

54.76

Система гель-документирования Gel Doc XR+ создана на базе CCD камеры высокого разрешения и чувствительности, и позволяет решать основные задачи анализа и документирования гелей и мембран. Gel Doc XR+ подходит для работы с широким спектром образцов, от полиакриламидных и агарозных гелей до блотов, и позволяет использовать такие методы детекции, как денситометрия, флуоресценция и колориметрия. Полная автоматизация всех процессов и программное обеспечение Image Lab позволяют быстро получать точные и воспроизводимые результаты.

+

131.43

Диспергирование,  гомогенизация, перемешивание, смешение в потоке, эмульгирование на диспергаторе MagicLab

+

1,204.75

Идентификация белков методом масс-спектрометрии МАЛДИ с использованием баз данных Mascott с помощью времяпролетного масс-спектрометра AXIMA-RESONANCE (5 комплектов образцов)

+

131.43

Идентификация возбудителей внутрибольничных инфекций в лечебных учреждениях с оценкой чувствительности к антибактериальным препаратам. В ходе работ производится выделение чистой культуры, бактериологическая идентификация возбудителя, оценка антибиотикочувствительности, депонирование штаммов. Секвенирования геномов бактерий и экспресс диагностика (ПЦР- детекция) осуществляется согласно техническому заданию.

+

919.99

Идентификация микроорганизмов методом масс-спектрометрии с матрично-активированной лазерной десорбцией/ ионизацией (MALDI) с использованием базы данных SARAMIS (5 комплектов образцов)

+



131.43

Изготовление листа, ленты шириной до 200мм,  толщиной до 1,8 мм

+

131.43

Изготовление пленки 1,3-х  слойная от 30 до 250мкм

+

43.81

Измерение pH 

+



372.38

Измерение времени жизни электронно-возбужденных состояний молекул методом флуоресцентной спектроскопии с времякоррелированным счетом единичных фотонов с помощью спектрофлуориметра Fluorolog-3

+



65.71

Измерение динамической вязкости 

+











54.76

Измерение мутности суспензий , определение концентрации клеток , измерение мутности клеточных суспензий на Денситометре DEN-1B Bio-San

+







24.10

Измерение спектров поглощения в ультрафиолетовом, видимом и инфракрасном диапазонах на спектрофлуориметре FluoroMax 4 HORIBA

+








65.71

Фурье-спектрометр инфракрасный VERTEX 70 предназначен для измерения оптических спектров пропускания, отражения в дальнем, среднем, ближнем ИК диапазонах, а также в видимой и ультрафиолетовой областях электромагнитного спектра, определения концентрации различных веществ в твердой, жидкой и газообразной фазах исследуемых образцов.


+

219.05

Микроскоп электронно-ионный растровый JIB-4500 предназначен для измерений линейных размеров элементов топологии микрорельефа поверхности твердотельных материалов и проведения локальной структурной модификации поверхности твердотельных объектов ионным пучком.

Предназначен для управляемого локального травления сфокусированным ионным пучком проводящих и непроводящих объектов с заданным рисунком. В совокупности с микроманипулятором  IB-32010FPUS идеально подходит для оперативной подготовки образцов из выбранной области для исследования в ПЭМ.

+

87.62

Аналитическое исследование тестирование материалов на просвечивающем электронном микроскопе Titan Themis 200 c корректором сферической аберрации в режиме изображений и высокоскоростным энергодисперсионным рентгеновским микроанализатором. 

Прибор используется для измерений геометрических расстояний и размеров элементов микро- и ультраструктуры тонкопленочных образцов (ультратонких срезов ткани, залитой в полимер, и суспензий микрочастиц (вплоть до наноразмерных), нанесенных на полимерную пленку-подложку). Применяется в материаловедении, биологических, медицинских исследованиях, а также при оценке биобезопасности продукции наноиндустрии и нанотехнологий.

+


71.19

STA 409PC, STA 429CD, STA 449C, TG 209C используются для выполнения измерений термодинамических характеристик (температура и энтальпия фазовых переходов, теплоемкость) твердых и порошкообразных образцов, для контроля качества в фармакологии, строительстве, в производстве биосинтетических препаратов, а также исследования в химии, физике, материаловедении, металлургии, биологии. Диапазоны измерения: температуры, °С от -160 до 2400 от -1270 до 1650 от 20 до 1000 от 20 до 1600 энтальпии от 1 до 100 кДж/кг теплоемкости от 100 до 3000 Дж/кг*К. Погрешности T1,5,5 % T3% T3%.

+

1,084.28

Изучение зеренной структуры образца с определением плотности дислокаций на просвечивающем электронном микроскопе Titan Themis Z

+

Свяжитесь с нами насчёт цены

Изучение кристаллографической ориентировки зеренной структуры на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEM


657.14

Изучение многослойных структур в режиме СПЭМ, включая исследование элементного состава образца по линии на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe FPIB/SEM

+

219.05

Изучение морфологии, микроструктуры, размера частиц, толщины пленок, гетероструктур их элементного и фазового составов, кристаллографической ориентировки зерен

+



















54.76

Поляриметр 341 модели производства фирмы ПеркинЭлмер (США) - универсальный прибор с поляризатором Глена-Тейлора и двумя лампами – Na и Hg, который предназначен для измерения угла вращения плоскости поляризации оптически активными прозрачными и однородными растворами и жидкостями.

+

54.76
4-лазерный прибор, который может быть сконфигурирован до 25-цветной оптической схемы, с использованием независимых фотоумножителей, тем самым открывая...
+

1,226.66

Исследование кристаллической структуры образца с применением электронной дифракции на просвечивающем электронном микроскопе Titan Themis Z

+

219.05

Исследование кристаллической структуры твердотельных материалов, определение качественного и количественного фазового состава и структуры твердых тел, Рентгеноструктурный анализ на дифрактометре D8 DISCOVER

+


89.81

Исследование магнитооптического эффекта Керра и наблюдение магнитных доменов на тонких пленках на установке Neoark BH-PI7892-KI

+

43.81

Для измерения оптических спектров пропускания, отражения в ИК диапазоне, определения концентрации различных органических и неорганических веществ в твердой и жидких фазах, продукции нефтехимического производства, органического синтеза, продуктах питания, фармацевтики и т.п., для применения в качестве отдельных автономных приборов, так и в составе автоматизированных систем управления качеством технологического процесса в аналитических лабораториях промышленного производства, научно-исследовательских и учебных организаций.

+


153.33

Исследование морфологии частиц на сканирующем электронном микроскопе с возможностью работы в низком вакууме SEM Quattro S 

+





197.14

Исследование образца методом ИК-микроскопии с помощью вакуумного ИК-Фурье спектрометра Vertex 70v и инфракрасного микроскопа HYPERION 3000

+



788.56

Исследование образца методом синхронного термического анализа (термогравиметрия, дифференциальная сканирующая калориметрия, детектирование выделяющихся газов методом ИК спектроскопии)

+


32.86

Исследование образца методом спектрофотометрии в УФ- и видимой области спектра

+

26.29

Исследование образца методом спектрофотометрии в УФ- и видимой области спектра

+

54.76

Исследование образца методом ядерной магнитной релаксации

+

43.81

Для измерения оптических спектров пропускания, отражения в ИК диапазоне, определения концентрации различных органических и неорганических веществ в твердой и жидких фазах, продукции нефтехимического производства, органического синтеза, продуктах питания, фармацевтики и т.п., для применения в качестве отдельных автономных приборов, так и в составе автоматизированных систем управления качеством технологического процесса в аналитических лабораториях промышленного производства, научно-исследовательских и учебных организаций.

    +


    21.90

    Микроскопы проходящего и отраженного света, они реализовывают все методы исследования и контрастирования, присущие этим способам освещения. Темное поле в отраженном свете с помощью эпи-объективов высокого класса и специальных конструкций гарантируют высокое качество и контраст в отраженном свете. Устойчивый штатив не выглядит массивным. В данном случае конструкция в виде "пирамиды" позволяет разместить элементы механического и электронного управления микроскопами компактно.

    +

    107.33
    Исследование поверхности, исследование топографии микро- и нанообъектов на сканирующем электронном микроскопе Philipls SEM515
    +