Исследование растворенного образца методом спектрофлуориметрии
Исследование строения и свойств молекул и молекулярных систем, динамики внутри-межмолекулярных обменных процессов, реакционной способности новых классов органических, элементорганических соединений и полимеров в растворах на Спектрометре ЯМР Bruker Avance II 400
Исследование твердого образца методом пиролитической газовой хромато-масс спектрометрии
Исследование твердого образца методом термодесорбционной газовой хромато-масс спектрометрии
Исследование тепловых эффектов, измерение теплоемкости, исследование фазовых переходов на термогравиметрическом ДСК анализаторе Netzsch DSC 404 F Pegasus
Исследование термодеструкции образца методом совмещенного спектрального термоанализа
Атомно силовой микроскоп P100/P150 обладает возможностью проводить сканирование образцов с субнанометровым разрешением по оси Z , микроскоп P100 / P150 может быть использован для получения и анализа изображений с высокой разрешающей способностью. Интегрированный сканер с низким уровнем шума и с открытым контуром позволяет быстро и эффективно проводить эксперименты на 15 мкм на 15 мкм.
Исследование фазовых равновесий в среде сверхкритического флюида
Исследование физико-химических свойств поверхности нанообъектов и наноструктур с помощью современных методов зондовой микроскопии. Точность измерения перемещения (система сканирования) по вертикали 0,1 нм, в латеральном направлении – 1 нм.
Возможна работа в режиме АСМ и СТМ.
Возможность работы в контактном, прерывисто-контактном и бесконтактном режиме.
Производитель: ЗАО “НТ-МДТ”, Россия
Основные технические характеристики
Диффузионная длина (LD) 10 ÷ 2000 мкм при LD < t
Концентрация металла (Fe) 10⁹ ÷ 10¹³ см⁻³
Погрешность измерений: 15 ÷ 30 >#/p###