Каталог услуг

Исследование элементного анализа концентраций матричного состава посредством атомно-эмиссионного микроскопа Carl Zeiss AAS-3

 В спектрофотометре используется метод атомно-абсорбционного спектрального анализа с использованием пламенной атомизации. Для анализа используется тип пламени «ацетилен - воздух». Принцип действия спектрофотометра основан на спектрально - селективном поглощении излучения атомов определяемого элемента, находящегося в свободном состоянии (атомный пар). Поглощательная способность атомного пара находится в прямой зависимости от концентрации химического элемента, поступающего в систему атомизации. 

Определение примесного состава высокочистых веществ и материалов  методами атомно-эмиссионной спектрометрии с индуктивно связанной плазмой на приборе Thermo iCAP 6300 Duo

Исследование элементного состава образца на сканирующем электронном микроскопе с возможностью работы в низком вакууме Quattro S

Исследования и анализ спектров люминесценции, измерение времен жизни возбужденных состояний молекул, исследование молекулярной динамики на Спектрофлуориметре Fluorolog-3 HORIBA

Исследования и анализы ягодных и овощных соков и экстрактов плодовых, измерение растворимых сухих веществ, титруемых кислот, осадка, хлоридов в соках

Исследования и измерения свойств овощных маринадов на массовую долю овощей, растворимых сухих веществ, хлоридов, жиров, кислот, сахаров, осадка

Исследования и наблюдения образцов образцов очень небольшого размера в инфракрасном свете через микроскоп HYPERION 

ИК-микроскопия используется для анализа образцов в очень малом количестве (от 0,01 до 100 мкг) или малых размеров (от 10–1 до 10–3 мм), а также концентрационных флуктуаций и включений.

Для ИК-Фурье спектроскопии микрообъектов в режиме пропускания образцы должны быть оптически тонкими, т.е. обычно толщиной 5-15 μм. Если образцы расположены на отражающей подложке, можно применять режим отражения. Штатно предлагается 15-кратный объектив, а для более мелких образцов 20 и 36-кратные объективы. Для неотражающих и непрозрачных образцов может использоваться режим НПВО (нарушенного полного внутреннего отражения).