Каталог услуг

12 000.00 
Как правило не используется для подтверждения качества источников централизованного водоснабжения, но подходит для источников нецентрализованного...
+

18 000.00 
Как правило не используется для подтверждения качества источников централизованного водоснабжения, но подходит для источников нецентрализованного...
+

4 000.00 

Анализ поверхности материалов и образцов методами оптической микроскопии на прямом микроскопе Carl Zeiss Axio Imager M2

+

15 000.00 

Анализ полимеров, измерение вязкости раствора полимера от 23 до +250С  

Используемое оборудование: Ротационный вискозиметр расплава Брукфельда


+

30 000.00 
Анализ пористости материалов, получение распределения пор по размерам, определение газовой и жидкостной проницаемости на порометре капиллярных потоков iPore...
+

9 000.00 
Развёрнутый  физико-химический и радиологический анализ почвы по 17 показателям учитывающий нормы СанПиН 2.1.7.1287-03 «Санитарно-эпидемиологические...
+

12 000.00 
Развёрнутый  физико-химический и радиологический анализ почвы по 17 показателям учитывающий нормы СанПиН 2.1.7.1287-03 «Санитарно-эпидемиологические...
+




5 000.00 

Анализ сахара, рафинада, сырца на сахарозу, редуцирующие вещества, цветность, влажность, зольность

+


2 600.00 

Эллипсометр Uvisel позволяет проводить анализ, исследования, тестирования свойств тонких пленок, проводить моделирование широкого круга образцов: анализировать многослойные, анизотропные, градиентные структуры, определять композиционный состав пленок, пористость и шероховатость. В базу данных DeltaPsi2 входит более 100 материалов и более 30 дисперсионных формул, а также алгоритмы анализа композиционных материалов. Все это позволяет исследовать образцы различной природы: полупроводники, диэлектрики и металлы, например, такие, как полимерные пленки, просветляющие покрытия, солнечные батареи, оптоэлектронные устройства и другие. Диапазон длин волн 190-2100 нм; угол падения от 35 до 90°; точность определения показателя преломления n~0,002

+







12 000.00 
Наблюдение и измерение топографии поверхности различных образцов в микронном масштабе. Позволяет получать 3D изображение поверхности образца, при диапазоне...
+