Москва

Поиск

+7(495)661-61-09Mon-Fr 9a.m.-6p.m.
Request call

Каталог услуг

Sort Alphabetically: A to Z
48 Per Page
Измерения свойств консерв мясных, анализ паштета и фарша на массовую долю крахмала, поваренной соли, нитратов, жира, белка [CLONE]
6 000.00 ₽

Измерения свойств консерв мясных, анализ паштета и фарша на массовую долю крахмала, поваренной соли, нитратов, жира, белка

+ −
Buy now with 1-click
Измерения термодинамических характеристик, температуры и энтальпии фазовых переходов, теплоемкости твердых и порошкообразных образцов на приборе синхронного термического анализа Netzsch STA 409 PC
6 500.00 ₽

STA 409PC, STA 429CD, STA 449C, TG 209C используются для выполнения измерений термодинамических характеристик (температура и энтальпия фазовых переходов, теплоемкость) твердых и порошкообразных образцов, для контроля качества в фармакологии, строительстве, в производстве биосинтетических препаратов, а также исследования в химии, физике, материаловедении, металлургии, биологии. Диапазоны измерения: температуры, °С от -160 до 2400 от -1270 до 1650 от 20 до 1000 от 20 до 1600 энтальпии от 1 до 100 кДж/кг теплоемкости от 100 до 3000 Дж/кг*К. Погрешности T1,5,5 % T3% T3%.

+ −
Buy now with 1-click
Изучение зеренной структуры образца с определением плотности дислокаций на просвечивающем электронном микроскопе Titan Themis Z
99 000.00 ₽

Изучение зеренной структуры образца с определением плотности дислокаций на просвечивающем электронном микроскопе Titan Themis Z

+ −
Buy now with 1-click
Изучение кристаллографической ориентировки зеренной структуры на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEM
Contact us for a price

Изучение кристаллографической ориентировки зеренной структуры на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEM

Изучение многослойных структур в режиме СПЭМ, включая исследование элементного состава образца по линии на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe FPIB/SEM
60 000.00 ₽

Изучение многослойных структур в режиме СПЭМ, включая исследование элементного состава образца по линии на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe FPIB/SEM

+ −
Buy now with 1-click
Изучение морфологии и поверхности образца на сканирующем электронном микроскопе Quattro с низким вакуумом и детектором обратно рассеянных электронов
20 000.00 ₽

Изучение морфологии, микроструктуры, размера частиц, толщины пленок, гетероструктур их элементного и фазового составов, кристаллографической ориентировки зерен

+ −
Buy now with 1-click
Изучение морфологии наночастиц в ПЭМ и СПЭМ режимах на просвечивающем электронном микроскопе с пробкорректором Titan Themis Z
60 000.00 ₽

Изучение морфологии наночастиц в ПЭМ и СПЭМ режимах на просвечивающем электронном микроскопе с пробкорректором Titan Themis Z

+ −
Buy now with 1-click
Изучение морфологии поверхности образца на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEMс детектором обратно рассеянных электронов
30 000.00 ₽

Изучение морфологии поверхности образца на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEMс детектором обратно рассеянных электронов

+ −
Buy now with 1-click
Испытание на стойкость к удару шаровым копром
10 000.00 ₽

Испытание на стойкость к удару  шаровым копром

+ −
Buy now with 1-click
Испытание на стойкость к удару шаровым копром [CLONE]
10 000.00 ₽

Испытание на стойкость к удару  шаровым копром

+ −
Buy now with 1-click
Испытание на стойкость к удару шаровым копром [CLONE] [CLONE]
10 000.00 ₽

Испытание на стойкость к удару  шаровым копром

+ −
Buy now with 1-click
Испытание на усилие на прокол для пленочных материалов и кожи
10 000.00 ₽

Испытание на усилие на прокол для пленочных материалов

+ −
Buy now with 1-click
Испытание пластиков и полимеров УФ-старением
1 000.00 ₽
Испытание пластиков и полимеров УФ-старением  Используемые стандарты ISO 4892-2, ASTM G 151, G155 Используемое...
+ −
Buy now with 1-click
Испытание резины, полимерных пленок, геомембран на раздир
12 000.00 ₽

Испытание резины, полимерных пленок, геомембран на раздир

+ −
Buy now with 1-click
Испытания на растяжение, исследование прочности, измерение предела текучести
12 000.00 ₽

Испытания на растяжение, исследование прочности,  измерение предела текучести 

+ −
Buy now with 1-click
Исследование адгезии полимерного клея при отслаивании при температуре 180° T-Peel test
12 000.00 ₽
Исследование адгезии полимерного клея при отслаивании при температуре 180° T-Peel test 
+ −
Buy now with 1-click
Исследование адгезии полимерного клея при отслаивании при температуре 180° T-Peel test [CLONE]
12 000.00 ₽
Исследование адгезии полимерного клея при отслаивании при температуре 180° T-Peel test 
+ −
Buy now with 1-click
Исследование адгезии полимерного клея при отслаивании при температуре 180° T-Peel test [CLONE] [CLONE]
12 000.00 ₽
Исследование адгезии полимерного клея при отслаивании при температуре 180° T-Peel test 
+ −
Buy now with 1-click
Исследование адгезии полимерного клея при отслаивании при температуре 180° T-Peel test [CLONE] [CLONE] [CLONE]
12 000.00 ₽
Исследование адгезии полимерного клея при отслаивании при температуре 180° T-Peel test 
+ −
Buy now with 1-click
Исследование водопоглощения пластмасс
10 000.00 ₽

Исследование водопоглощения пластмасс 

+ −
Buy now with 1-click
Исследование и анализ оптически активных соединений на спектрополяриметре Perkin Elmer 341
5 000.00 ₽

Поляриметр 341 модели производства фирмы ПеркинЭлмер (США) - универсальный прибор с поляризатором Глена-Тейлора и двумя лампами – Na и Hg, который предназначен для измерения угла вращения плоскости поляризации оптически активными прозрачными и однородными растворами и жидкостями.

+ −
Buy now with 1-click
Исследование клеточного цикла, количественный анализ ДНК, анализ тромбоцитов, исследование цитоморфологической принадлежности клетки на проточном цитофлюориметре ACEA NovoCyte
5 000.00 ₽
4-лазерный прибор, который может быть сконфигурирован до 25-цветной оптической схемы, с использованием независимых фотоумножителей, тем самым открывая...
+ −
Buy now with 1-click
Исследование кристаллической структуры образца с применением электронной дифракции на просвечивающем электронном микроскопе Titan Themis Z
112 000.00 ₽

Исследование кристаллической структуры образца с применением электронной дифракции на просвечивающем электронном микроскопе Titan Themis Z

+ −
Buy now with 1-click
Исследование кристаллической структуры твердотельных материалов, определение качественного и количественного фазового состава и структуры твердых тел, Рентгеноструктурный анализ на дифрактометре D8 DISCOVER
20 000.00 ₽

Исследование кристаллической структуры твердотельных материалов, определение качественного и количественного фазового состава и структуры твердых тел, Рентгеноструктурный анализ на дифрактометре D8 DISCOVER

+ −
Buy now with 1-click
Исследование ликёро-водочной продукции, анализ настоек, наливок, ликеров, вина
6 800.00 ₽

Исследование ликёро-водочной продукции, анализ настоек, наливок, ликеров, вина  

+ −
Buy now with 1-click
Исследование магнитооптического эффекта Керра и наблюдение магнитных доменов на тонких пленках на установке Neoark BH-PI7892-KI
8 200.00 ₽

Исследование магнитооптического эффекта Керра и наблюдение магнитных доменов на тонких пленках на установке Neoark BH-PI7892-KI

+ −
Buy now with 1-click
Исследование молекулярного примесного и элементного состава высокочистых веществ посредством ИК-Фурье спектрометра Bruker Tensor 27
4 000.00 ₽

Для измерения оптических спектров пропускания, отражения в ИК диапазоне, определения концентрации различных органических и неорганических веществ в твердой и жидких фазах, продукции нефтехимического производства, органического синтеза, продуктах питания, фармацевтики и т.п., для применения в качестве отдельных автономных приборов, так и в составе автоматизированных систем управления качеством технологического процесса в аналитических лабораториях промышленного производства, научно-исследовательских и учебных организаций.

+ −
Buy now with 1-click
Исследование морфологии частиц на сканирующем электронном микроскопе с возможностью работы в низком вакууме SEM Quattro S
14 000.00 ₽

Исследование морфологии частиц на сканирующем электронном микроскопе с возможностью работы в низком вакууме SEM Quattro S 

+ −
Buy now with 1-click
Исследование на акустическом микроскопе для объемных структур KSI v-350lm
4 800.00 ₽

Исследование на акустическом микроскопе для объемных структур KSI v-350lm

+ −
Buy now with 1-click
Исследование образца методом атомно-силовой микроскопии в воздушной среде
5 500.00 ₽

Исследование образца методом атомно-силовой микроскопии в воздушной среде

+ −
Buy now with 1-click
Исследование образца методом атомно-силовой микроскопии в воздушной среде [CLONE]
14 200.00 ₽

Исследование образца методом атомно-силовой микроскопии в воздушной среде

+ −
Buy now with 1-click
Исследование образца методом дифференциальной сканирующей калориметрии
8 900.00 ₽

Исследование образца методом дифференциальной сканирующей калориметрии

+ −
Buy now with 1-click
Исследование образца методом оптической микроскопии на микроскопе высокого разрешения Imager Carl Zeiss
3 500.00 ₽

Исследование образца методом оптической микроскопии на микроскопе высокого разрешения Imager Carl Zeiss

+ −
Buy now with 1-click
Исследование образца методом синхронного термического анализа (дифференциальная сканирующая калориметрия)
18 000.00 ₽

Исследование образца методом синхронного термического анализа (дифференциальная сканирующая калориметрия)

+ −
Buy now with 1-click
Исследование образца методом синхронного термического анализа (термогравиметрия, дифференциальная сканирующая калориметрия, детектирование выделяющихся газов методом ИК спектроскопии)
72 000.00 ₽

Исследование образца методом синхронного термического анализа (термогравиметрия, дифференциальная сканирующая калориметрия, детектирование выделяющихся газов методом ИК спектроскопии)

+ −
Buy now with 1-click
Исследование образца методом синхронного термического анализа (термогравиметрия, дифференциальный термический анализ)
9 000.00 ₽

Исследование образца методом синхронного термического анализа (термогравиметрия, дифференциальный термический анализ)

+ −
Buy now with 1-click
Исследование образца методом спектрофотометрии в УФ- и видимой области спектра
3 000.00 ₽

Исследование образца методом спектрофотометрии в УФ- и видимой области спектра

+ −
Buy now with 1-click
Исследование образца методом спектрофотометрии в УФ- и видимой области спектра
2 400.00 ₽

Исследование образца методом спектрофотометрии в УФ- и видимой области спектра

+ −
Buy now with 1-click
Исследование образца методом спектрофотометрии в УФ- и видимой области спектра [CLONE]
5 000.00 ₽

Исследование образца методом спектрофотометрии в УФ- и видимой области спектра

+ −
Buy now with 1-click
Исследование образца методом ядерной магнитной релаксации
5 000.00 ₽

Исследование образца методом ядерной магнитной релаксации

+ −
Buy now with 1-click
Исследование оптических параметров полупроводниковых материалов на ИК-Фурье спектрометре высокого разрешения Bruker IFS-113v
4 000.00 ₽

Для измерения оптических спектров пропускания, отражения в ИК диапазоне, определения концентрации различных органических и неорганических веществ в твердой и жидких фазах, продукции нефтехимического производства, органического синтеза, продуктах питания, фармацевтики и т.п., для применения в качестве отдельных автономных приборов, так и в составе автоматизированных систем управления качеством технологического процесса в аналитических лабораториях промышленного производства, научно-исследовательских и учебных организаций.

    + −
    Buy now with 1-click
    Исследование пластмассы измерение модуля упругости, модуля потерь, тангенса угла потерь при нагревании
    20 000.00 ₽

    Исследование пластмассы измерение модуля упругости, модуля потерь, тангенса угла потерь при нагревании

    + −
    Buy now with 1-click
    Исследование поверхности методами оптической микроскопии на универсальном микроскопе отраженного света Carl Zeiss Axioplan 2
    2 000.00 ₽

    Микроскопы проходящего и отраженного света, они реализовывают все методы исследования и контрастирования, присущие этим способам освещения. Темное поле в отраженном свете с помощью эпи-объективов высокого класса и специальных конструкций гарантируют высокое качество и контраст в отраженном свете. Устойчивый штатив не выглядит массивным. В данном случае конструкция в виде "пирамиды" позволяет разместить элементы механического и электронного управления микроскопами компактно.

    + −
    Buy now with 1-click
    Исследование поверхности, исследование топографии микро- и нанообъектов на сканирующем электронном микроскопе Philips SEM515
    9 800.00 ₽
    Исследование поверхности, исследование топографии микро- и нанообъектов на сканирующем электронном микроскопе Philipls SEM515
    + −
    Buy now with 1-click
    Исследование примесного состава газо- и жидкофазных систем методом ИК-фурье-спектроскопии высокого разрешения на приборе Bruker IFS-125HR
    6 000.00 ₽

    Исследование примесного состава газо- и жидкофазных систем методом ИК-фурье-спектроскопии высокого разрешения на приборе Bruker IFS-125HR

    + −
    Buy now with 1-click
    Исследование прочности покрытия при Т-образном изгибе Штампом Эриксена
    10 000.00 ₽

    Исследование прочности покрытия при Т-образном изгибе

    + −
    Buy now with 1-click
    Исследование растворенного образца методом спектрофлуориметрии
    4 600.00 ₽

    Исследование растворенного образца методом спектрофлуориметрии

    + −
    Buy now with 1-click
    Исследование растворенного образца методом спектрофлуориметрии [CLONE]
    4 600.00 ₽

    Исследование растворенного образца методом спектрофлуориметрии

    + −
    Buy now with 1-click
     Prev
    1 2 3 4 5 6 7 8 9 10
    Next