Москва

Поиск

+7(495)661-61-09Пн-Пт: 9:00-18:00
Заказать обратный звонок

Научные аналитические исследования и тесты

Научные аналитические исследования и тесты. Научное исследование - это практическое применение набора методических исследовательских процессов, используемых исследователем для разработки исследования. Для него характерно дисциплинированное расследование, которое следует формальным правилам процедур для получения необходимой информации и выдвижения гипотез, подтверждающих анализ, проведенный исследователем

Сортировать по алфавиту: от А до Я
24 На страницу
Изучение зеренной структуры образца с определением плотности дислокаций на просвечивающем электронном микроскопе Titan Themis Z
€1,084.28

Изучение зеренной структуры образца с определением плотности дислокаций на просвечивающем электронном микроскопе Titan Themis Z

+ −
Купить в один клик
Изучение кристаллографической ориентировки зеренной структуры на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEM
Свяжитесь с нами насчёт цены

Изучение кристаллографической ориентировки зеренной структуры на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEM

Изучение многослойных структур в режиме СПЭМ, включая исследование элементного состава образца по линии на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe FPIB/SEM
€657.14

Изучение многослойных структур в режиме СПЭМ, включая исследование элементного состава образца по линии на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe FPIB/SEM

+ −
Купить в один клик
Изучение морфологии и поверхности образца на сканирующем электронном микроскопе Quattro с низким вакуумом и детектором обратно рассеянных электронов
€219.05

Изучение морфологии, микроструктуры, размера частиц, толщины пленок, гетероструктур их элементного и фазового составов, кристаллографической ориентировки зерен

+ −
Купить в один клик
Изучение морфологии наночастиц в ПЭМ и СПЭМ режимах на просвечивающем электронном микроскопе с пробкорректором Titan Themis Z
€657.14

Изучение морфологии наночастиц в ПЭМ и СПЭМ режимах на просвечивающем электронном микроскопе с пробкорректором Titan Themis Z

+ −
Купить в один клик
Изучение морфологии поверхности образца на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEMс детектором обратно рассеянных электронов
€328.57

Изучение морфологии поверхности образца на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEMс детектором обратно рассеянных электронов

+ −
Купить в один клик
Исследование адгезии полимерного клея при отслаивании при температуре 180° T-Peel test
€131.43

Исследование адгезии полимерного клея при отслаивании при температуре 180° T-Peel test 

+ −
Купить в один клик
Исследование адгезии полимерного клея при отслаивании при температуре 90°
€131.43

Исследование адгезии полимерного клея при отслаивании при температуре 180° T-Peel test 

+ −
Купить в один клик
Исследование и анализ ИК спектра твердого образца в таблетке КВг в диапазоне 3000 - 600 см'1
€32.86

регистрация ИК спектра, анализ ИК спектра,  ИК анализ жидкости, ИК исследование, инфракрасный анализ, инфракрасный анализ жидкости

+ −
Купить в один клик
Исследование и анализ оптически активных соединений на спектрополяриметре Perkin Elmer 341
€54.76

Поляриметр 341 модели производства фирмы ПеркинЭлмер (США) - универсальный прибор с поляризатором Глена-Тейлора и двумя лампами – Na и Hg, который предназначен для измерения угла вращения плоскости поляризации оптически активными прозрачными и однородными растворами и жидкостями.

+ −
Купить в один клик
Исследование кристаллической структуры образца с применением электронной дифракции на просвечивающем электронном микроскопе Titan Themis Z
€1,226.66

Исследование кристаллической структуры образца с применением электронной дифракции на просвечивающем электронном микроскопе Titan Themis Z

+ −
Купить в один клик
Исследование кристаллической структуры твердотельных материалов, определение качественного и количественного фазового состава и структуры твердых тел, Рентгеноструктурный анализ на дифрактометре D8 DISCOVER
€219.05

Исследование кристаллической структуры твердотельных материалов, определение качественного и количественного фазового состава и структуры твердых тел, Рентгеноструктурный анализ на дифрактометре D8 DISCOVER

+ −
Купить в один клик
Исследование магнитооптического эффекта Керра и наблюдение магнитных доменов на тонких пленках на установке Neoark BH-PI7892-KI
€89.81

Исследование магнитооптического эффекта Керра и наблюдение магнитных доменов на тонких пленках на установке Neoark BH-PI7892-KI

+ −
Купить в один клик
Исследование молекулярного примесного и элементного состава высокочистых веществ посредством ИК-Фурье спектрометра Bruker Tensor 27
€43.81

Для измерения оптических спектров пропускания, отражения в ИК диапазоне, определения концентрации различных органических и неорганических веществ в твердой и жидких фазах, продукции нефтехимического производства, органического синтеза, продуктах питания, фармацевтики и т.п., для применения в качестве отдельных автономных приборов, так и в составе автоматизированных систем управления качеством технологического процесса в аналитических лабораториях промышленного производства, научно-исследовательских и учебных организаций.

+ −
Купить в один клик
Исследование морфологии поверхности на SEM сканирующем электронном микроскопе
€98.57

Исследование морфологии поверхности на сканирующем электронном микроскопе

+ −
Купить в один клик
Исследование морфологии частиц на сканирующем электронном микроскопе с возможностью работы в низком вакууме SEM Quattro S
€153.33

Исследование морфологии частиц на сканирующем электронном микроскопе с возможностью работы в низком вакууме SEM Quattro S 

+ −
Купить в один клик
Исследование на акустическом микроскопе для объемных структур KSI v-350lm
€52.57

Исследование на акустическом микроскопе для объемных структур KSI v-350lm

+ −
Купить в один клик
Исследование образца методом атомно-силовой микроскопии в воздушной среде
€60.24

Исследование образца методом атомно-силовой микроскопии в воздушной среде

+ −
Купить в один клик
Исследование образца методом атомно-силовой микроскопии в жидкой среде
€155.52

Исследование образца методом атомно-силовой микроскопии в жидкой среде

+ −
Купить в один клик
Исследование образца методом дифференциальной сканирующей калориметрии
€97.48

Исследование образца методом дифференциальной сканирующей калориметрии

+ −
Купить в один клик
Исследование образца методом ИК-микроскопии с помощью вакуумного ИК-Фурье спектрометра Vertex 70v и инфракрасного микроскопа HYPERION 3000
€197.14

Исследование образца методом ИК-микроскопии с помощью вакуумного ИК-Фурье спектрометра Vertex 70v и инфракрасного микроскопа HYPERION 3000

+ −
Купить в один клик
Исследование образца методом оптической микроскопии на микроскопе высокого разрешения Imager Carl Zeiss
€38.33

Исследование образца методом оптической микроскопии на микроскопе высокого разрешения Imager Carl Zeiss

+ −
Купить в один клик
Исследование образца методом синхронного термического анализа (дифференциальная сканирующая калориметрия)
€197.14

Исследование образца методом синхронного термического анализа (дифференциальная сканирующая калориметрия)

+ −
Купить в один клик
Исследование образца методом синхронного термического анализа (термогравиметрия, дифференциальная сканирующая калориметрия, детектирование выделяющихся газов методом ИК спектроскопии)
€788.56

Исследование образца методом синхронного термического анализа (термогравиметрия, дифференциальная сканирующая калориметрия, детектирование выделяющихся газов методом ИК спектроскопии)

+ −
Купить в один клик
 Назад
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11
Вперед  5 - 13