Научные аналитические исследования и тесты

Решение кристаллической структуры образца с использованием электронной томографии обратного пространства на просвечивающем электронном микроскопе Titan Themis Z с пробкорректором

221 000.00 ₽

Просвечивающий (сканирующий) электронный микроскоп Titan Themis Z, Thermo Fisher Scientific

Решение кристаллической структуры образца с использованием электронной томографии обратного пространства на просвечивающем электронном микроскопе Titan Themis Z

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Сканирующий тест, анализ топографии поверхности и под-поверхности, проведение 3D исследования на электронном двухлучевом микроxскопе Quanta 3D FEG

7 200.00 ₽

РАСТРОВЫЙ ДВУХЛУЧЕВОЙ ЭЛЕКТРОННЫЙ МИКРОСКОП QUANTA™ 3D DUALBEAM™, FEI, 41283 ФР.1.27.2009.06308 Методика рентгеноспектрального локального микроанализа элементного состава структурных составляющих материалов (растровый двулучевой электронно-ионный микроскоп Quanta 200 3D FEG, оснащенный рентгеновским энергодисперсионным спек

Сканирующий тест, анализ топографии поверхности, проведение 3D исследования на электронном двухлучевом микроскопе Quanta 3D FEG

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Спектральный ИК анализ газообразных продуктов термического разложения

30 000.00 ₽

ИК-Фурье спектрометр Bruker Tensor 27, Анализ и тесты газов, Bruker

спектральный анализ, ИК анализ, анализ газообразных продуктов, термическое разложение, анализ термического разложения

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Структурные исследования органических, металлоорганических и неорганических соединений в жидкости, анализ состава и чистоты химических соединений, анализ сложных смесей соединений на спектрометре ЯМР Bruker Avance III 500

5 000.00 ₽

Спектрометр ЯМР Bruker Ascend AVANCE III 500, Bruker

Структурные исследования органических, металлоорганических и неорганических соединений в жидкости, анализ состава и чистоты химических соединений, анализ сложных смесей соединений на спектрометре ЯМР Bruker Avance III 500

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Структурные исследования органических, металлоорганических и неорганических соединений, анализ УФ-спектров на спектрофотометре Lambda Perkin Elmer

5 000.00 ₽

Прецизионные спектрофотометры LambdaTM 650/750/850/950, Perkin Elmer

Для исследования спектров в ультрафиолетовой (UV), видимой (VIS) и ближней инфракрасной областях (NIR) спектра, а также для измерения оптической...

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Структурный анализ неорганических и металлоорганических кристаллов на рентгеновском монокристальном дифрактометре Xcalibur Gemini

5 000.00 ₽

Рентгеновский монокристальный дифрактометр Xcalibur Gemini, Agilent Technologies, 40958 ФР.1.31.2009.06707 «Методика измерений структурных характеристик материалов методом рентгеноструктурного анализа» Шифр методики Gemini

Измерение интенсивности и направления излучения, дифрагированного на кристаллическом объекте. Применяется для решения различных задач структурного анализа....

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Тестирование и анализ тонких пленок, тонкопленочной структуры, толщины слоев, оптических констант, шероховатости поверхности, неоднородности слоев на эллипсометре Auto SE

2 500.00 ₽

Спектральный эллипсометр Auto SE, HORIBA

Эллипсометр Auto SE объединяет максимальную эффективность анализа тонких пленок и простоту работы на приборе. Позволяет проводить исследования в полностью автоматическом режиме, путем нажатия одной кнопки. Измерение образца занимает всего несколько секунд, и результирующий отчет полностью описывает тонкопленочную структуру – толщины слоев, оптические константы, шероховатость поверхности и неоднородность слоев.

Кол-во:

+ −