Москва

Поиск

+7(495)661-61-09Пн-Пт: 9:00-18:00
Заказать обратный звонок

Научные аналитические исследования и тесты

Научные аналитические исследования и тесты. Научное исследование - это практическое применение набора методических исследовательских процессов, используемых исследователем для разработки исследования. Для него характерно дисциплинированное расследование, которое следует формальным правилам процедур для получения необходимой информации и выдвижения гипотез, подтверждающих анализ, проведенный исследователем

Сортировать по алфавиту: от А до Я
12 На страницу
Изучение зеренной структуры образца с определением плотности дислокаций на просвечивающем электронном микроскопе Titan Themis Z
99 000.00 ₽

Изучение зеренной структуры образца с определением плотности дислокаций на просвечивающем электронном микроскопе Titan Themis Z

+ −
Купить в один клик
Изучение кристаллографической ориентировки зеренной структуры на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEM
Свяжитесь с нами насчёт цены

Изучение кристаллографической ориентировки зеренной структуры на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEM

Изучение многослойных структур в режиме СПЭМ, включая исследование элементного состава образца по линии на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe FPIB/SEM
60 000.00 ₽

Изучение многослойных структур в режиме СПЭМ, включая исследование элементного состава образца по линии на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe FPIB/SEM

+ −
Купить в один клик
Изучение морфологии и поверхности образца на сканирующем электронном микроскопе Quattro с низким вакуумом и детектором обратно рассеянных электронов
20 000.00 ₽

Изучение морфологии, микроструктуры, размера частиц, толщины пленок, гетероструктур их элементного и фазового составов, кристаллографической ориентировки зерен

+ −
Купить в один клик
Изучение морфологии наночастиц в ПЭМ и СПЭМ режимах на просвечивающем электронном микроскопе с пробкорректором Titan Themis Z
60 000.00 ₽

Изучение морфологии наночастиц в ПЭМ и СПЭМ режимах на просвечивающем электронном микроскопе с пробкорректором Titan Themis Z

+ −
Купить в один клик
Изучение морфологии поверхности образца на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEMс детектором обратно рассеянных электронов
30 000.00 ₽

Изучение морфологии поверхности образца на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEMс детектором обратно рассеянных электронов

+ −
Купить в один клик
Исследование адгезии полимерного клея при отслаивании при температуре 180° T-Peel test
12 000.00 ₽

Исследование адгезии полимерного клея при отслаивании при температуре 180° T-Peel test 

+ −
Купить в один клик
Исследование адгезии полимерного клея при отслаивании при температуре 90°
12 000.00 ₽

Исследование адгезии полимерного клея при отслаивании при температуре 180° T-Peel test 

+ −
Купить в один клик
Исследование и анализ ИК спектра твердого образца в таблетке КВг в диапазоне 3000 - 600 см'1
3 000.00 ₽

регистрация ИК спектра, анализ ИК спектра,  ИК анализ жидкости, ИК исследование, инфракрасный анализ, инфракрасный анализ жидкости

+ −
Купить в один клик
Исследование и анализ оптически активных соединений на спектрополяриметре Perkin Elmer 341
5 000.00 ₽

Поляриметр 341 модели производства фирмы ПеркинЭлмер (США) - универсальный прибор с поляризатором Глена-Тейлора и двумя лампами – Na и Hg, который предназначен для измерения угла вращения плоскости поляризации оптически активными прозрачными и однородными растворами и жидкостями.

+ −
Купить в один клик
Исследование кристаллической структуры образца с применением электронной дифракции на просвечивающем электронном микроскопе Titan Themis Z
112 000.00 ₽

Исследование кристаллической структуры образца с применением электронной дифракции на просвечивающем электронном микроскопе Titan Themis Z

+ −
Купить в один клик
Исследование кристаллической структуры твердотельных материалов, определение качественного и количественного фазового состава и структуры твердых тел, Рентгеноструктурный анализ на дифрактометре D8 DISCOVER
20 000.00 ₽

Исследование кристаллической структуры твердотельных материалов, определение качественного и количественного фазового состава и структуры твердых тел, Рентгеноструктурный анализ на дифрактометре D8 DISCOVER

+ −
Купить в один клик
 Назад
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14
Вперед  8 - 22