Научные аналитические исследования и тесты

Количественный анализ элементного состава образца методом энергодисперсионной рентгенофлуоресцентной спектроскопии на анализаторе EDX-800HS 

Количественный без эталонный анализ элементного состава образца методом волнодисперсионной рентгенофлуоресцентной спектроскопии с использованием метода фундаментальных параметров

Количественный без эталонный анализ элементного состава образца методом энергодисперсинной рентгенофлуоресцентной спектроскопии с использованием метода фундаментальных параметров

Количественный морфологический анализ и измерение линейных размеров микрорельефа поверхности твердотельных структур.

Применяется в материаловедении, микроэлектронике и полупроводниковых технологиях, геологии, биологии, медицине, металлургии. Оснащен автоэмиссионным катодом холодного типа.

Микроскоп обеспечивает работу в режимах регистрации вторичных,  отраженных электронов и в режиме «напросвет».

Основные технические характеристики

Разрешение при ускоряющем напряжении 15кВ   
1нм

Разрешение при ускоряющем напряжении 1кВ
1,5 нм

Эффективный диаметр электронного зонда во вторичных электронах при 15кВ
не более 10 нм.

Диапазон регулировки увеличения
30¸800000 крат.

Диапазон измерения линейных размеров
0,02¸10000 мкм

Погрешность измерений линейных размеров не более
5 %.

Диапазон регулировки ускоряющего напряжения
0,1¸30 кВ

Производитель:
Hitachi, Япония

Количественный морфологический анализ и измерение линейных размеров микрорельефа поверхности твердотельных структур, элементный анализ от В до U на растровом электронном микроскопе JSM-6460LV и микроприставкой INCAX-SIGHT

Количественный спектральный анализ драгоценных металлов 

Измерение поверхности: лазерный сканирующий микроскоп LSM 5 Exciter - с помощью лазерного сканирующего микроскопа LSM 5 Exciter компания Carl Zeiss MicroImaging предлагает пользователям, занимающимся исследованиями материалов и анализом качества, микроскопическую систему, которая также анализирует относительно мягкие материалы, такие как полимеры, с помощью бесконтактной процедуры и с высокой точностью измерения и разрешением. Микроскоп увеличивает скорость, надежность и удобство анализа материала. Специальные функции программного обеспечения позволяют проводить количественный анализ поверхности и анализ материалов. С помощью бесконтактной конфокальной техники можно визуализировать и измерить 2D- и 3D-топографии, определить шероховатость и волнистость, а также измерить пористость и объемное содержание с высокой степенью качества и надежности.

Лабораторное исследование и получение изображения на электронный сканирующем микроскопе JSM-6490LV

Лабораторное тестирование АПАВ (анионных поверхностно-активных веществ) в сточных, поверхностных, питьевых водах экстракционно-фотометрическим методом

Анализ почвы на тяжелые металлы

Лабораторный анализ исследование соли поваренной пищевой

Лабораторный анализ концентрации ртути в твердых веществах

Лабораторный анализ на инфракрасном спектрометре ИК-спектроскопия  

Лабораторный анализ на исследование гранулометрического состава почвы

Анализ почвы на безопасность по 13 показателям

Лабораторный анализ почвы на плодородие, исследование элементов питания растений, измерение кислотно-основных свойств, тестирование органического вещества в почвах и грунтах

Лабораторный анализ размеров частиц, гранулометрический анализ

Диапазон сканирования 100х100х15 мкм (±10 %); высокая линейность позволяет использовать сканер для метрологических приложений; малошумящие датчики обратной связи позволяют получать разрешение, при котором различимы атомарные ступеньки; максимальный размер образца 5х5х1 см. Используется обычный кантилевер (контактный/бесконтакнтный)

Лабораторный физико-химический агрономический анализ почвы, исследование элементов питания растений, тестирование органического вещества, измерение микроэлементов, определение состава почвенного поглощающего комплекса,  физической глины

Масс-спектральные тесты предназначены для измерений содержания компонентов, входящих в состав органических и неорганических смесей веществ на MALDI-TOF Autoflex III

Масс-спектральный анализ матрично-активированной лазерной десорбции/ионизации образца в линейном режиме

Масс-спектральный анализ матрично-активированной лазерной десорбции/ионизации образца в режиме фрагментации

Масс-спектрометрический анализ образца с использованием MALDI-TOF