Научные аналитические исследования и тесты

Получение ЯМР спектров на ядрах F и Р (жидкий образец)

8 000.00 ₽

Спектрометр ЯМР Avance III 600, Научные исследования, Bruker

Получение ЯМР спектров на ядрах F и Р (жидкий образец)

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Получение ЯМР спектров на ядрах F и Р (твердый образец)

26 000.00 ₽

Спектрометр ЯМР Avance III 600, Научные исследования, Bruker

Получение ЯМР спектров на ядрах F и Р (твердый образец)

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Приготовление тонких срезов образцов для исследования методом электронной микроскопии

3 000.00 ₽

Ультрамикротом для электронного микроскопа Powertome, Научные исследования, Carl Zeiss

Приготовление тонких срезов образцов для исследования методом электронной микроскопии

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Пробоподготовка методом лиофильного высушивания

7 000.00 ₽

Настольная лиофильная сушка FreeZone Triad 2.5L -85°C с функцией автоматической укупорки, Научные исследования, Labconco

Пробоподготовка методом лиофильного высушивания

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Пробоподготовка, обессоливание образца ZipTip (до 25 мкг)

1 400.00 ₽

Пробоподготовка, обессоливание образца ZipTip (до 25 мкг)

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Проведение анализа элементного состава твердых и жидких образцов, количественный и качественный анализ вещества рентгенофлуоресцентным спектрометром EDX3600

4 000.00 ₽

РФА анализатор спектрометр EDX3600, Skyray Instrument

Проведение анализа элементного состава твердых и жидких образцов рентгенофлуоресцентным спектрометром EDX3600

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Проведение полного элементного анализа и измерение концентраций химических элементов на рентгенофлуоресцентном спектрометре ARL OPTIM’X

6 000.00 ₽

Спектрометр рентгенофлуоресцентный ARL OPTIM’X, Thermo Fisher Scientific

Проведение полного элементного анализа и измерение концентраций химических элементов на рентгенофлуоресцентном спектрометре ARL OPTIM’X

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Проведение спектрального элементного анализа одного элемента в жидкой пробе на атомно-абсорбционном спектрометре со сжиганием в печи (комплект из 5 образцов)

10 000.00 ₽

Атомно-абсорбционные спектрометры contrAA 700, Анализ воды , Analytik Jena

Проведение спектрального элементного анализа одного элемента в жидкой пробе на атомно-абсорбционном спектрометре со сжиганием в печи (комплект из 5 образцов)

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Проведение спектрального элементного анализа одного элемента в жидкой пробе на атомно-абсорбционном спектрометре со сжиганием в пламени (комплект из 5 образцов)

8 500.00 ₽

Атомно-абсорбционные спектрометры contrAA 700, Анализ воды , Analytik Jena

Проведение спектрального элементного анализа одного элемента в жидкой пробе на атомно-абсорбционном спектрометре со сжиганием в пламени (комплект из 5 образцов)

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Проведение спектрального элементного анализа одного элемента в твердой пробе на атомно-абсорбционном спектрометре со сжиганием в пламени (комплект из 5 образцов)

10 000.00 ₽

Атомно-абсорбционные спектрометры contrAA 700, Анализ воды , Analytik Jena

Проведение спектрального элементного анализа одного элемента в твердой пробе на атомно-абсорбционном спектрометре со сжиганием в пламени (комплект из 5 образцов)

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Проведение спектрального элементного анализа одного элемента твердой пробы на атомно-абсорбционном спектрометре со сжиганием в печи (комплект из 5 образцов)

13 000.00 ₽

Атомно-абсорбционные спектрометры contrAA 700, Анализ воды , Analytik Jena

Проведение спектрального элементного анализа одного элемента твердой пробы на атомно-абсорбционном спектрометре со сжиганием в печи (комплект из 5 образцов)

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Проведение элементного анализа образца по 5 точкам на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEM

34 000.00 ₽

Двухлучевой сканирующий электронный микроскоп Helios G4 Plasma FIB Uxe, Научные исследования, Thermo Fisher Scientific

Проведение элементного анализа образца по 5 точкам на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEM

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Протеомный анализ белкового препарата включающий: гидролиз белка трипсином, обессоливание образца ZipTip, хромато-масс-спектрометрический анализ в 3-х повторностях (градиент до 120 мин), идентификация белков биоинформационным анализом

24 000.00 ₽

Масс-спектрометр с ионной подвижностью timsTOF, Bruker

Протеомный анализ белкового препарата включающий: гидролиз белка трипсином, обессоливание образца ZipTip, хромато-масс-спектрометрический анализ в 3-х повторностях (градиент до 120 мин), идентификация белков биоинформационным анализом. (TIMS-TOF-PRO, Ultimate 3000nano UPLC)

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Разделение смесей методом препаративной высокоэффективной жидкостной хроматографии с помощью препаративной хроматографической системы LC-20AP

19 000.00 ₽

Описание лабораторной услуги: Разделение смесей методом препаративной высокоэффективной жидкостной хроматографии с помощью препаративной...

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Регистрация 13C ЯМР-спектра твердого образца

26 000.00 ₽

Спектрометр ЯМР Avance III 600, Научные исследования, Bruker

Регистрация 13С ЯМР-спектра твердого образца

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Регистрация и анализ ИК спектра жидкости в диапазоне 3000 - 600 см'1

3 000.00 ₽

ИК-Фурье спектрофотометр FTIR-8400S, Научные исследования, Shimadzu, 54201 Методика определения минеральных масел на поверхности кислородного оборудования, в газах, жидком кислороде и растворителе Forane на ИК спектрометре FTIR-8400S фирмы Shimadzu. М-02-2602-08

Регистрация и анализ ИК спектра жидкости в диапазоне 3000 - 600 см'1

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Регистрация и анализ ИК спектра твердого образца в вазелиновом масле в диапазоне 3000 - 600 см'1

6 000.00 ₽

ИК-Фурье спектрофотометр FTIR-8400S, Научные исследования, Shimadzu, 54201 Методика определения минеральных масел на поверхности кислородного оборудования, в газах, жидком кислороде и растворителе Forane на ИК спектрометре FTIR-8400S фирмы Shimadzu. М-02-2602-08

регистрация ИК спектра, анализ ИК спектра, ИК анализ жидкости, ИК исследование, инфракрасный анализ, инфракрасный анализ жидкости

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Регистрация и анализ масс-спектра ионизации электрораспылением образца

9 000.00 ₽

Времяпролетный тандемный масс-спектрометр высокого разрешения с матрично-ассоциированной лазерной десорбцией-ионизацией Axima (MALDI), Научные исследования, Shimadzu

Регистрация и анализ масс-спектра ионизации электрораспылением образца

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Регистрация и расшифровка рентгеноструктурных дифрактограмм кристаллических веществ

15 000.00 ₽

Рентгеновский порошковый дифрактометр LabX XRD-6100, Научные исследования, Shimadzu, ГОСТ Р 51795-2019 Цементы. Методы определения содержания минеральных добавок

Регистрация и расшифровка рентгеноструктурных дифрактограмм кристаллических веществ

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Регистрация ИК спектра жидкости на ИК-Фурье-спектрометре Tensor 27 компании Bruker

7 200.00 ₽

ИК-Фурье спектрометр Bruker Tensor 27, Анализ воды , Bruker

Регистрация ИК спектра жидкости на ИК-Фурье-спектрометре Tensor 27 компании Bruker

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Регистрация ИК спектра твердого образца в вазелиновом масле на ИК-Фурье-спектрометр Vertex 70 c Раман-приставкой RAM II производства Bruker

7 200.00 ₽

ИК-Фурье спектрометр VERTEX 70v, Анализ органических соединений, Bruker

Регистрация ИК спектра твердого образца в вазелиновом масле на ИК-Фурье-спектрометр Vertex 70 c Раман-приставкой RAM II производства Bruker

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Регистрация ИК спектра твердого образца в таблетке KBr на ИК-Фурье-спектрометр Vertex 70 c Раман-приставкой RAM II производства Bruker

7 200.00 ₽

ИК-Фурье спектрометр VERTEX 70v, Анализ органических соединений, Bruker

Регистрация ИК спектра твердого образца в таблетке KBr на ИК-Фурье-спектрометр Vertex 70 c Раман-приставкой RAM II производства Bruker

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Регистрация одномерного ЯМР спектра при переменной температуре

48 000.00 ₽

ЯМР-спектрометр Agilent DD2 400 NB, Научные исследования, Agilent Technologies

Регистрация одномерного ЯМР спектра при переменной температуре

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Регистрация спектра комбинационного рассеяния образца с помощью ИК-фурье спектрометра с приставкой комбинационного рассеяния Vertex 70. Идентификация соединения по КР-спектру.

5 800.00 ₽

ИК-Фурье спектрометр VERTEX 70v, Экология, Bruker

Запись ИК-спектра образца. Идентификация соединения по ИК-спектру

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Регистрация спектров кругового дихроизма и структурные исследования органических, металлоорганических и неорганических соединений на дихрометре СКД-2 МУФ

5 000.00 ₽

Полифункциональный дихрометр СКД-2 МУФ, Институт спектроскопии РАН (ИСАН)

Область применения Структурные исследования органических, металлоорганических и неорганических соединений Регистрация спектров кругового дихроизма...

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Регистрация ЯМР спектра азота 15N на спектрометре Agilent

12 000.00 ₽

ЯМР-спектрометр Agilent DD2 400 NB, Научные исследования, Agilent Technologies

Регистрация ЯМР спектра фосфора на спектрометре Agilent

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Регистрация ЯМР спектра водорода 2H на спектрометре Agilent

12 000.00 ₽

ЯМР-спектрометр Agilent DD2 400 NB, Научные исследования, Agilent Technologies

Регистрация ЯМР спектра фосфора на спектрометре Agilent

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Регистрация ЯМР спектра водорода на спектрометре Agilent

12 000.00 ₽

ЯМР-спектрометр Agilent DD2 400 NB, Научные исследования, Agilent Technologies

Регистрация ЯМР спектра водорода на спектрометре Agilent

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Регистрация ЯМР спектра кремния 29 Si на спектрометре Agilent

12 000.00 ₽

ЯМР-спектрометр Agilent DD2 400 NB, Научные исследования, Agilent Technologies

Регистрация ЯМР спектра кремния 29 Si на спектрометре Agilent

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Регистрация ЯМР спектра углерода на спектрометре Agilent

12 000.00 ₽

ЯМР-спектрометр Agilent DD2 400 NB, Научные исследования, Agilent Technologies

Регистрация ЯМР спектра углерода на спектрометре Agilent

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Регистрация ЯМР спектра фосфора 31P на спектрометре Agilent

12 000.00 ₽

ЯМР-спектрометр Agilent DD2 400 NB, Научные исследования, Agilent Technologies

Регистрация ЯМР спектра фосфора на спектрометре Agilent

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Регистрация ЯМР спектра фтора 19F на спектрометре Agilent

12 000.00 ₽

ЯМР-спектрометр Agilent DD2 400 NB, Научные исследования, Agilent Technologies

Регистрация ЯМР спектра фтора 19F на спектрометре Agilent

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Регистрация, расшифровка и интерпретация двумерных ЯМР спектров 1 категории сложности

68 000.00 ₽

ЯМР-спектрометр Agilent DD2 400 NB, Научные исследования, Agilent Technologies

Регистрация, расшифровка и интерпретация двумерных ЯМР спектров 1 категории сложности

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Регистрация, расшифровка и интерпретация двумерных ЯМР спектров 2 категории сложности

200 000.00 ₽

ЯМР-спектрометр Agilent DD2 400 NB, Научные исследования, Agilent Technologies

Регистрация, расшифровка и интерпретация двумерных ЯМР спектров 2 категории сложности

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Регистрация, анализ ИК-спектра образца, идентификация соединения по ИК-спектру

4 000.00 ₽

ИК-Фурье спектрометр VERTEX 70v, Экология, Bruker

Запись ИК-спектра образца. Идентификация соединения по ИК-спектру

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Рентгенофлуоресцентный спектральный выездной анализ металлов, руд, почв на портативном переносном рентгеновском спектрометре Explorer Skyray Instrument

12 000.00 ₽

Экспресс РФА анализатор EDX Pocket Series Explorer 5000, Skyray Instrument

Рентгенофлуоресцентный спектральный выездной анализ металлов, руд, почв на портативном переносном рентгеновском спектрометре Explorer Skyray Instrument

Рентгенофлуоресцентный метод спектрального анализа основан на сборе и анализе спектра, полученного после возбуждения характеристического рентгеновского излучения, которое возникает при переходе атома из возбуждённого в основное состояние. Атомы разных элементов испускают фотоны со строго определёнными энергиями, измерив которые можно определить качественный элементный состав. Для измерения количества элемента регистрируется интенсивность излучения с определённой энергией.

Аналитический метод анализа: Энергодисперсионный рентгеновской флуоресцентный

Измеряемые элементы, диапазон атомного номера от 12 до 92 [элементы от магния (Mg) до урана (U)] могут быть измерены

Одновременный анализ: до 40 элементов

Микрокомпьютер: настроенная система; CPU: 1G; Системная память: 1G; Расширение до 32G; Стандарт 4G

Аналитический диапазон: 1 ppm ~ 99,99>#/p###

Время анализа: 1 ~ 60 секунд

Встроенная система: GPS, WiFi, Bluetooth

Источник Питания: Аккумуляторная литиевая батарея, стандарт 9000mAh, устойчивое время работы до 12 часов; опционально 27000mAh superbattery с широким напряжением 110V ~ 220V, универсальный адаптер для подзарядки питания

Анализируемые материалы: твердые, жидкие вещества, порошки

Детектор: Кремниевый SDD или Fast-SDD детектор (опционально)

Минимальное разрешение детектора может достигать 128eV

Источник возбуждения: интегрированная миниатюрная серебрянная рентгеновская лучевая трубка 50кВ / 200uA и высоковольтный источник питания

Коллиматоры и фильтры: диаметры коллиматорв 4,0 мм и 2,0 мм, 6 видов фильтров с автоматическим переключением

Видеосистема: 5mpx пикселей камера высокого разрешения

Экран дисплея: Новый 5-дюймовый сенсорный экран трансфлективный ЖК-дисплей, разрешение 1080 x 720

Предел обнаружения: минимальные пределы обнаружения 1 ~ 500 ppm

Диапазон рабочих температур: от -20 до +50°C.

Габариты и вес:

Размеры инструмента 244мм (длина) x 90 мм (ширина) x 300 мм (высота)

Вес : 1,7 кг

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Решение кристаллической структуры образца с использованием электронной томографии обратного пространства на просвечивающем электронном микроскопе Titan Themis Z с пробкорректором

221 000.00 ₽

Просвечивающий (сканирующий) электронный микроскоп Titan Themis Z, Thermo Fisher Scientific

Решение кристаллической структуры образца с использованием электронной томографии обратного пространства на просвечивающем электронном микроскопе Titan Themis Z

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Сканирующий тест, анализ топографии поверхности и под-поверхности, проведение 3D исследования на электронном двухлучевом микроxскопе Quanta 3D FEG

7 200.00 ₽

РАСТРОВЫЙ ДВУХЛУЧЕВОЙ ЭЛЕКТРОННЫЙ МИКРОСКОП QUANTA™ 3D DUALBEAM™, FEI, 41283 ФР.1.27.2009.06308 Методика рентгеноспектрального локального микроанализа элементного состава структурных составляющих материалов (растровый двулучевой электронно-ионный микроскоп Quanta 200 3D FEG, оснащенный рентгеновским энергодисперсионным спек

Сканирующий тест, анализ топографии поверхности, проведение 3D исследования на электронном двухлучевом микроскопе Quanta 3D FEG

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Спектральный ИК анализ газообразных продуктов термического разложения

30 000.00 ₽

ИК-Фурье спектрометр Bruker Tensor 27, Анализ и тесты газов, Bruker

спектральный анализ, ИК анализ, анализ газообразных продуктов, термическое разложение, анализ термического разложения

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Структурные исследования органических, металлоорганических и неорганических соединений в жидкости, анализ состава и чистоты химических соединений, анализ сложных смесей соединений на спектрометре ЯМР Bruker Avance III 500

5 000.00 ₽

Спектрометр ЯМР Bruker Ascend AVANCE III 500, Bruker

Структурные исследования органических, металлоорганических и неорганических соединений в жидкости, анализ состава и чистоты химических соединений, анализ сложных смесей соединений на спектрометре ЯМР Bruker Avance III 500

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Структурные исследования органических, металлоорганических и неорганических соединений, анализ УФ-спектров на спектрофотометре Lambda Perkin Elmer

5 000.00 ₽

Прецизионные спектрофотометры LambdaTM 650/750/850/950, Perkin Elmer

Для исследования спектров в ультрафиолетовой (UV), видимой (VIS) и ближней инфракрасной областях (NIR) спектра, а также для измерения оптической...

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Структурный анализ неорганических и металлоорганических кристаллов на рентгеновском монокристальном дифрактометре Xcalibur Gemini

5 000.00 ₽

Рентгеновский монокристальный дифрактометр Xcalibur Gemini, Agilent Technologies, 40958 ФР.1.31.2009.06707 «Методика измерений структурных характеристик материалов методом рентгеноструктурного анализа» Шифр методики Gemini

Измерение интенсивности и направления излучения, дифрагированного на кристаллическом объекте. Применяется для решения различных задач структурного анализа....

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Тестирование и анализ тонких пленок, тонкопленочной структуры, толщины слоев, оптических констант, шероховатости поверхности, неоднородности слоев на эллипсометре Auto SE

2 500.00 ₽

Спектральный эллипсометр Auto SE, HORIBA

Эллипсометр Auto SE объединяет максимальную эффективность анализа тонких пленок и простоту работы на приборе. Позволяет проводить исследования в полностью автоматическом режиме, путем нажатия одной кнопки. Измерение образца занимает всего несколько секунд, и результирующий отчет полностью описывает тонкопленочную структуру – толщины слоев, оптические константы, шероховатость поверхности и неоднородность слоев.

Кол-во:

+ −