Москва

Поиск

+7(495)661-61-09Пн-Пт: 9:00-18:00
Заказать обратный звонок

Рентгеноструктурные анализы и тесты

Измерения параметров кристаллической решетки, качественного и количественного фазового состава кристаллических и поликристаллических тонких пленок, дисперсных систем и структур на их основе

Сортировать по алфавиту: от А до Я
50 На страницу
Аналитическое исследование на качественный и количественный фазовый и структурный анализ порошков, тонких пленок, дисперсных систем
5 500.00 ₽
Просмотр
Идентификация образца методом рентгеновской дифрактометрии
11 000.00 ₽
Просмотр
Исследование кристаллической структуры твердотельных материалов, определение качественного и количественного фазового состава и структуры твердых тел, Рентгеноструктурный анализ на дифрактометре D8 DISCOVER
20 000.00 ₽
Просмотр
Картирование элементного состава образца с использованием методики энергодисперсионной спектроскопии EDX с атомным разрешением по 3 областям на просвечивающем электронном микроскопе Titan Themiz S с пробкорректором
145 000.00 ₽
Просмотр
Определение количественного соотношения кристаллических фаз и степени кристалличности вещества посредством рентгеноструктурного анализа
20 000.00 ₽
Просмотр
Определение степени кристалличности образца методом рентгеновской дифрактометрии
11 000.00 ₽
Просмотр
Регистрация и расшифровка рентгеноструктурных дифрактограмм кристаллических веществ
15 000.00 ₽
Просмотр
Структурный анализ неорганических и металлоорганических кристаллов на рентгеновском монокристальном дифрактометре Xcalibur Gemini
5 000.00 ₽
Просмотр