Vendor productsProducts found: 42

Ask a question

£23.74

Анализ наночастиц, многоцветное иммунофенотипирование, анализ ДНК ,детектирование флуоресцентных белков, анализ стволовых клеток; подсчет числа клеток, исследование взаимодействия клеток с частицами на проточном цитометре CYTOFLEX

+

£158.30
Двухлучевой сканирующий электронный микроскоп Helios G4 Plasma FIB Uxe оснащен двумя колонами электронной Elstar с высокоточной технологией UC+ для...
+





£44.52

Определение широкого спектра явлений на клеточном уровне: апоптоз; клеточный цикл; клеточное деление; клеточная миграция; клеточная морфология; изменение формы клеток; реорганизация цитоскелета; цитотоксичность; in situ флуоресцентная гибридизация (FISH); анализ липидных частиц; развитие нервных клеток; экспрессия белков; анализ сигнальных путей; активация рецепторов; РНК тестирование; факторы транскрипции (Система in vitro высококонтрастной визуализации (Operetta);

+

£29.68

Гидролиз белка (образец до 100 мкг) трипсином в растворе/в геле

+

£39.57

Гидролиз белка (образец до 100 мкг) трипсином по протоколу FASP

+



£25.72

Измерение содержания различных органических и неорганических веществ в твердых и жидких образцах по спектрам комбинационного рассеяния, а также для химического анализа поверхности твердых образцов на LabRam HR Evolution

+

£21.77

Измерение спектров поглощения в ультрафиолетовом, видимом и инфракрасном диапазонах на спектрофлуориметре FluoroMax 4 HORIBA

+

£979.47

Изучение зеренной структуры образца с определением плотности дислокаций на просвечивающем электронном микроскопе Titan Themis Z

+


£593.62

Изучение многослойных структур в режиме СПЭМ, включая исследование элементного состава образца по линии на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe FPIB/SEM

+

£197.87

Изучение морфологии, микроструктуры, размера частиц, толщины пленок, гетероструктур их элементного и фазового составов, кристаллографической ориентировки зерен

+



£1,108.09

Исследование кристаллической структуры образца с применением электронной дифракции на просвечивающем электронном микроскопе Titan Themis Z

+

£138.51

Исследование морфологии частиц на сканирующем электронном микроскопе с возможностью работы в низком вакууме SEM Quattro S 

+

£138.51

Исследование элементного состава образца на сканирующем электронном микроскопе с возможностью работы в низком вакууме Quattro S

+

£237.45
Исследование элементного состава образца с картированием по 3 областям на сканирующем электронном микроскопе Quattro  с возможностью работы в низком...
+