English
Русский
English
(€)
($)
(₽)
(€)
(£)
Описание
О проекте
Зарегистрировать лабораторию
Лаборатории
Сотрудничество
Контакты
Москва
Мой профиль
Orders
Comparison list
Wish list
Track my order(s)
Track my order(s)
Sign in
Register
E-mail
Password
Forgot your password?
Register for a new account
Sign in
Remember me
Поиск
+7(495)
661-61-09
Mon-Fr 9a.m.-6p.m.
Request call
Cart is empty
Cart is empty
View cart
Checkout
Menu
Каталог услуг
Научные аналитические исследования и тесты
Спектральные исследования и анализы
Хроматографические тесты и исследования
Рентгеноструктурные анализы и тесты
Микроскопические тесты и исследования
Анализ пористости проницаемости
Профилометрия и топографический анализ
View more
→
Микробиологические исследования и анализы
Секвенирование
Цитофлуориметрия
Физико-механические испытания
Химические исследования и анализы
Медицинские анализы и тесты
Обработка материалов
Аренда оборудования
123456
Анализ алкоголя
Анализ воды
Анализ почвы
Анализы пищевых продуктов
Научные исследования
Анализ пластмассы
Измерение толщины
Исследование древесины
Анализ лакокрасочных материалов
Тесты и анализы металла
Химические исследования
Исследование порошков
Стандарты и методики
Каталог лабораторий
Каталог производителей
Каталог оборудования
Скидки
Home
/
Tags
/
Items marked by the "анализ топографии поверхности" tag:
Items marked by the "анализ топографии поверхности" tag:
Products
Sort Alphabetically: A to Z
Newest Items First
Sort Alphabetically: Z to A
Sort by Price: Low to High
Sort by Price: High to Low
Sort by Popularity
12 Per Page
24 Per Page
48 Per Page
50 Per Page
96 Per Page
Анализ поверхности материалов и образцов методами оптической микроскопии на прямом микроскопе Carl Zeiss Axio Imager M2
€
43.81
Quick view
Анализ топографии поверхности и получение 3D изображений образца на лазерном конфокальном сканирующем микроскопе Lasertech VL2000DX
€
131.43
Quick view
Анализ шероховатости на профилометре Alpha-Step D120
€
18.07
Quick view
Измерения линейных размеров элементов топологии микрорельефа поверхности твердотельных материалов и проведение локальной структурной модификации поверхности твердотельных объектов ионным пучком на микроскопе JIB-4500
€
219.05
Quick view
Изучение морфологии и поверхности образца на сканирующем электронном микроскопе Quattro с низким вакуумом и детектором обратно рассеянных электронов
€
219.05
Quick view
Исследование морфологии частиц на сканирующем электронном микроскопе с возможностью работы в низком вакууме SEM Quattro S
€
153.33
Quick view
Исследование поверхности методами оптической микроскопии на универсальном микроскопе отраженного света Carl Zeiss Axioplan 2
€
21.90
Quick view
Исследование поверхности, исследование топографии микро- и нанообъектов на сканирующем электронном микроскопе Philips SEM515
€
107.33
Quick view
Исследование топографии поверхности с суб-нанометровым разрешением, исследование свойств поверхности, профилометрия на сканирующем атомно силовом микроскопе P100
€
65.71
Quick view
Исследование физико-химических свойств поверхности нанообъектов и наноструктур с помощью зондового микроскопа Solver P47H
€
208.09
Quick view
Исследование физико-химических свойств поверхности нанообъектов и наноструктур, проведение АСМ и СТМ анализа образцов в жидкостях на сканирующей зондовой лаборатории NTEGRA AURA
€
208.09
Quick view
Исследования и наблюдения образцов образцов очень небольшого размера в инфракрасном свете через ИК микроскоп HYPERION
€
43.81
Quick view
Prev
1
2
Next