Научные исследования, научные анализы, измерения параметров, тестирования, определения свойств
Проведение элементного анализа образца по 5 точкам на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEM
Регистрация 13С ЯМР-спектра твердого образца
Регистрация и анализ ИК спектра жидкости в диапазоне 3000 - 600 см'1
регистрация ИК спектра, анализ ИК спектра, ИК анализ жидкости, ИК исследование, инфракрасный анализ, инфракрасный анализ жидкости
Регистрация и анализ масс-спектра ионизации электрораспылением образца
Регистрация и расшифровка рентгеноструктурных дифрактограмм кристаллических веществ
Регистрация одномерного ЯМР спектра при переменной температуре
Регистрация ЯМР спектра фосфора на спектрометре Agilent
Регистрация ЯМР спектра водорода на спектрометре Agilent
Регистрация ЯМР спектра кремния 29 Si на спектрометре Agilent
Регистрация ЯМР спектра углерода на спектрометре Agilent
Регистрация ЯМР спектра фтора 19F на спектрометре Agilent
Регистрация, расшифровка и интерпретация двумерных ЯМР спектров 1 категории сложности
Регистрация, расшифровка и интерпретация двумерных ЯМР спектров 2 категории сложности
Центрифугирование
Элементный анализ микрообъектов с использованием метода сканирующей электронной микроскопии
Элементный анализ образца с картированием по 3 областям на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe FPIB/SEM