Поиск

+7(495)661-61-09Пн-Пт: 9:00-18:00

Заказать обратный звонок

Главная/Теги/Элементы обозначенные тегом "SEM анализ":

Элементы обозначенные тегом "SEM анализ":

Товары

Количественный морфологический анализ и измерение линейных размеров микрорельефа поверхности твердотельных структур, элементный анализ от В до U на растровом электронном микроскопе JSM-6460LV и микроприставкой INCAX-SIGHT

£178.09

РАСТРОВЫЙ ЭЛЕКТРОННЫЙ МИКРОСКОП JSM-6460LV С ПРИСТАВКОЙ РЕНТГЕНОВ-СКОГОМИКРОАНАЛИЗА INCAX-SIGHT, ПРИСТАВКОЙ РЕГИСТРАЦИИ СПЕКТРОВ МИКРО-КАТОДОЛЮМИНЕС-ЦЕНЦИИMONOCL3 И ПРИСТАВКОЙ РЕГИСТРАЦИИ ДИФРАКЦИИ ОБРАТНО-РАССЕЯННЫХ ЭЛЕКТРОНОВ, JEOL, 42452 ФР.1.27.2011.09314 Рекомендация «ГСИ. Размеры частиц и распределение частиц по размерам. Методика выполнения измерений с помощью растрового электронного микроскопа JSM-6460LV»

Количественный морфологический анализ и измерение линейных размеров микрорельефа поверхности твердотельных структур, элементный анализ от В до U на растровом электронном микроскопе JSM-6460LV и микроприставкой INCAX-SIGHT

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Лабораторное исследование, получение нано- и микро-изображений, спектральный точечный тест на электронном сканирующем микроскопе JSM-6490LV

£51.45

Микроскоп электронный сканирующий JSM-6490LV, Научные исследования, JEOL, 42452 ФР.1.27.2011.09314 Методика выполнения измерений размеров частиц и распределения частиц по размерам для неэлектропроводящих частиц с помощью растрового электронного микроскопа

Лабораторное исследование и получение изображения на электронный сканирующем микроскопе JSM-6490LV

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Проведение элементного анализа образца по 5 точкам на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEM

£336.38

Двухлучевой сканирующий электронный микроскоп Helios G4 Plasma FIB Uxe, Научные исследования, Thermo Fisher Scientific

Проведение элементного анализа образца по 5 точкам на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEM

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Сканирующий тест, анализ топографии поверхности и под-поверхности, проведение 3D исследования на электронном двухлучевом микроxскопе Quanta 3D FEG

£71.23

РАСТРОВЫЙ ДВУХЛУЧЕВОЙ ЭЛЕКТРОННЫЙ МИКРОСКОП QUANTA™ 3D DUALBEAM™, FEI, 41283 ФР.1.27.2009.06308 Методика рентгеноспектрального локального микроанализа элементного состава структурных составляющих материалов (растровый двулучевой электронно-ионный микроскоп Quanta 200 3D FEG, оснащенный рентгеновским энергодисперсионным спек

Сканирующий тест, анализ топографии поверхности, проведение 3D исследования на электронном двухлучевом микроскопе Quanta 3D FEG

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Элементный анализ микрообъектов с использованием метода сканирующей электронной микроскопии

£157.80

Автоэмиссионный сканирующий электронный микроскоп ΣIGMA, Научные исследования, Carl Zeiss

Элементный анализ микрообъектов с использованием метода сканирующей электронной микроскопии

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Элементный анализ образца с картированием по 3 областям на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe FPIB/SEM

£613.41

Двухлучевой сканирующий электронный микроскоп Helios G4 Plasma FIB Uxe, Научные исследования, Thermo Fisher Scientific

Элементный анализ образца с картированием по 3 областям на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe FPIB/SEM

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Назад

1 2

Вперед

Страницы

Исследования и тесты на SEM сканирующем электронном микроскопе