39377 ФР.1.27.2011.11533 Методика измерений параметров шероховатости и топографии поверхности на контактном профилометре

Аттестующая организация

НазваниеЗначение
Наименование аттестующей организацииФГУП "ВНИИМС"
Номер аттестата аккредитации№ 01.00225-2011
Адрес аттестующей организации119361, г. Москва, Озерная, 46
Телефон аттестующей организации437-55-77, факс:437-55-56
E-mail аттестующей организацииoffice@vniims.ru

Сведения о разработчике МВИ

НазваниеЗначение
Разработчик МВИФГУП 'ВНИИМС'
Наименование разработчика МВИФГУП 'ВНИИМС'
Адрес разработчика МВИ119361, г. Москва, ул. Озерная, 46
Телефон разработчика МВИ437-55-77, факс:437-56-66
E-mail разработчика МВИoffice@vniims.ru

Сведения об аттестованной методике (методе) измерений

НазваниеЗначение
Номер в реестреФР.1.27.2011.11533
Раздел реестраВне сферы обороны
Вид методикиМетодика (метод) измерений
Назначение методикиПредназначена для контроля топографии поверхности и параметров шероховатости поверхности изделий независимо от их материала и способа изготовления (получения), в т.ч. поверхности покрытий и тонких пленок, полученных физическими и химическими методами осаждния
Наименование документа на методикуМетодика (метод) измерений параметров шероховатости и топографии поверхности на контактном профилометре
№ свидетельства об аттестации01.00225-2008/6-2010
Дата свидетельства об аттестации17.11.2010
Вид измеренийГеометрические измерения
Метод измеренийПрямой контактный метод измерения высоты микронеровностей участка путем плоского сканирования
Измеряемая величинаШероховатость поверхности
Пределы измерений0,1 - 0,1 мкм
Характеристика погрешности+/-0,022 мкм
СтатусДействует

Вложения

НазваниеЗначение

Общие сведения

НазваниеЗначение
Номер записи39377
Дата опубликования18.04.2018