39377 ФР.1.27.2011.11533 Методика измерений параметров шероховатости и топографии поверхности на контактном профилометре
Аттестующая организация
Название | Значение |
---|---|
Наименование аттестующей организации | ФГУП "ВНИИМС" |
Номер аттестата аккредитации | № 01.00225-2011 |
Адрес аттестующей организации | 119361, г. Москва, Озерная, 46 |
Телефон аттестующей организации | 437-55-77, факс:437-55-56 |
E-mail аттестующей организации | office@vniims.ru |
Сведения о разработчике МВИ
Название | Значение |
---|---|
Разработчик МВИ | ФГУП 'ВНИИМС' |
Наименование разработчика МВИ | ФГУП 'ВНИИМС' |
Адрес разработчика МВИ | 119361, г. Москва, ул. Озерная, 46 |
Телефон разработчика МВИ | 437-55-77, факс:437-56-66 |
E-mail разработчика МВИ | office@vniims.ru |
Сведения об аттестованной методике (методе) измерений
Название | Значение |
---|---|
Номер в реестре | ФР.1.27.2011.11533 |
Раздел реестра | Вне сферы обороны |
Вид методики | Методика (метод) измерений |
Назначение методики | Предназначена для контроля топографии поверхности и параметров шероховатости поверхности изделий независимо от их материала и способа изготовления (получения), в т.ч. поверхности покрытий и тонких пленок, полученных физическими и химическими методами осаждния |
Наименование документа на методику | Методика (метод) измерений параметров шероховатости и топографии поверхности на контактном профилометре |
№ свидетельства об аттестации | 01.00225-2008/6-2010 |
Дата свидетельства об аттестации | 17.11.2010 |
Вид измерений | Геометрические измерения |
Метод измерений | Прямой контактный метод измерения высоты микронеровностей участка путем плоского сканирования |
Измеряемая величина | Шероховатость поверхности |
Пределы измерений | 0,1 - 0,1 мкм |
Характеристика погрешности | +/-0,022 мкм |
Статус | Действует |
Вложения
Название | Значение |
---|
Общие сведения
Название | Значение |
---|---|
Номер записи | 39377 |
Дата опубликования | 18.04.2018 |