Сканирующий электронный микроскоп Quattro S

Сканирующий электронный микроскоп Quattro S позволяет исследовать широкий спектр материалов вплоть до биологических объектов с использованием различных режимов таких как режим высокого вакуума, режим низкого вакуума до 200 Па или режим сверхнизкого вакуума до 4000 Па. С использованием микроскопа Quattro S можно изучать морфологию частиц, покрытия и тонкие пленки, структуру металлов и сплавов и др, а, также, их элементный и фазовый состав при помощи EDX детектора.

Год, фирма-изготовитель, страна-изготовитель: 2018, TFS (ThermoFisherScientific), Нидерланды

Технические характеристики:
Разрешающая способность электронного пучка
Режим высокого вакуума:
1,0 нм при 30 кВ
Режим низкого вакуума до 200 Па:
1,3 нм при 30 кВ (режим вторичных электронов);
3,0 нм при 3 кВ (режим вторичных электронов);
Режим сверхнизкого вакуума до 4000 Па:
1,3 нм при 30 кВ (режим вторичных электронов);
Диапазон токов:
1 пА to 200 нА;
Диапазон ускоряющих напряжений:
200 В – 30 кВ;
Диапазон энергии взаимодействия:
20 эВ – 30 кэВ с возможностью понижения энергии электронного пучка.