Русский
Русский
English
($)
($)
(₽)
(€)
(£)
Описание
Сотрудничество
Зарегистрировать лабораторию
Блог
Доставка
Контакты
Москва
Мой профиль
Заказы
Список сравнения
Отложенные товары
Отслеживание заказа
Отслеживание заказа
Войти
Регистрация
E-mail
Пароль
Забыли пароль?
Создать учетную запись
Войти
Запомнить
Поиск
+7(495)
661-61-09
Пн-Пт: 9:00-18:00
Заказать обратный звонок
Корзина пуста
Корзина пуста
Корзина
Оформить заказ
Меню
Каталог тестов
Научные аналитические исследования и тесты
Спектральные исследования и анализы
Хроматографические тесты и исследования
Рентгеноструктурные анализы и тесты
Микроскопические тесты и исследования
Анализ пористости проницаемости
Профилометрия и топографический анализ
Больше
→
Микробиологические исследования и анализы
Секвенирование
Цитофлуорометрия
Физико-механические испытания
Физико-химические исследования и анализы
Медицинские анализы и тесты
Обработка материалов
Аренда оборудования
Типы анализов
Анализ алкоголя
Анализ воды
Анализ почвы
Анализы пищевых продуктов
Научные исследования
Анализ пластмасс и полимеров
Измерение толщины
Исследование древесины
Анализ лакокрасочных материалов
Тесты и анализы металла
Химические исследования
Исследование порошков
Стандарты и методики
Каталог лабораторий
Каталог производителей
Каталог оборудования
Заявка
Главная
/
Теги
/
Элементы обозначенные тегом "SEM анализ":
Элементы обозначенные тегом "SEM анализ":
Товары
Сортировать по алфавиту: от А до Я
Сортировать по времени: новинки выше
Сортировать по алфавиту: от Я до А
Сортировать по цене: дешевые выше
Сортировать по цене: дорогие выше
Сортировать по популярности: по убыванию
12 На страницу
24 На страницу
48 На страницу
50 На страницу
96 На страницу
Количественный морфологический анализ и измерение линейных размеров микрорельефа поверхности твердотельных структур, элементный анализ от В до U на растровом электронном микроскопе JSM-6460LV и микроприставкой INCAX-SIGHT
$
238.05
Просмотр
Лабораторное исследование, получение нано- и микро-изображений, спектральный точечный тест на электронном сканирующем микроскопе JSM-6490LV
$
68.77
Просмотр
Проведение элементного анализа образца по 5 точкам на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEM
$
449.65
Просмотр
Сканирующий тест, анализ топографии поверхности и под-поверхности, проведение 3D исследования на электронном двухлучевом микроxскопе Quanta 3D FEG
$
95.22
Просмотр
Элементный анализ микрообъектов с использованием метода сканирующей электронной микроскопии
$
210.94
Просмотр
Элементный анализ образца с картированием по 3 областям на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe FPIB/SEM
$
819.94
Просмотр
Назад
1
2
Вперед
Страницы
Исследования и тесты на SEM сканирующем электронном микроскопе