English
Русский
English
($)
($)
(₽)
(€)
(£)
Описание
О проекте
Зарегистрировать лабораторию
Лаборатории
Сотрудничество
Контакты
Москва
Мой профиль
Orders
Comparison list
Wish list
Track my order(s)
Track my order(s)
Sign in
Register
E-mail
Password
Forgot your password?
Register for a new account
Sign in
Remember me
Поиск
+7(495)
661-61-09
Mon-Fr 9a.m.-6p.m.
Request call
Cart is empty
Cart is empty
View cart
Checkout
Menu
Каталог услуг
Научные аналитические исследования и тесты
Спектральные исследования и анализы
Хроматографические тесты и исследования
Рентгеноструктурные анализы и тесты
Микроскопические тесты и исследования
Анализ пористости проницаемости
Профилометрия и топографический анализ
View more
→
Микробиологические исследования и анализы
Секвенирование
Цитофлуориметрия
Физико-механические испытания
Химические исследования и анализы
Медицинские анализы и тесты
Обработка материалов
Аренда оборудования
123456
Анализ алкоголя
Анализ воды
Анализ почвы
Анализы пищевых продуктов
Научные исследования
Анализ пластмассы
Измерение толщины
Исследование древесины
Анализ лакокрасочных материалов
Тесты и анализы металла
Химические исследования
Исследование порошков
Стандарты и методики
Каталог лабораторий
Каталог производителей
Каталог оборудования
Скидки
Home
/
Tags
/
Items marked by the "тест на SEM" tag:
Items marked by the "тест на SEM" tag:
Products
Sort Alphabetically: A to Z
Newest Items First
Sort Alphabetically: Z to A
Sort by Price: Low to High
Sort by Price: High to Low
Sort by Popularity
12 Per Page
24 Per Page
48 Per Page
50 Per Page
96 Per Page
Аренда двухлучевого сканирующего электронного микроскопа Helios G4 Plasma FIB Uxe (с оператором ЦКП) за час
CODE:
$
211.60
+
−
Add to cart
Аренда сканирующего электронного микроскопа Quattro S с возможностью работы в низком вакууме (с оператором ЦКП) за час
CODE:
$
119.02
+
−
Add to cart
Изготовление и визуализация кросс секции на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEM
CODE:
$
423.20
+
−
Add to cart
Измерения линейных размеров элементов топологии микрорельефа поверхности твердотельных материалов и проведение локальной структурной модификации поверхности твердотельных объектов ионным пучком на микроскопе JIB-4500
CODE:
$
264.50
+
−
Add to cart
Изучение морфологии и поверхности образца на сканирующем электронном микроскопе Quattro с низким вакуумом и детектором обратно рассеянных электронов
CODE:
$
264.50
+
−
Add to cart
Исследование морфологии частиц на сканирующем электронном микроскопе с возможностью работы в низком вакууме SEM Quattro S
CODE:
$
185.15
+
−
Add to cart
Исследование поверхности, исследование топографии микро- и нанообъектов на сканирующем электронном микроскопе Philips SEM515
CODE:
$
129.60
+
−
Add to cart
Количественный морфологический анализ и измерение линейных размеров микрорельефа поверхности твердотельных структур на SEM микроскопе S-4800
CODE:
$
238.05
+
−
Add to cart
Количественный морфологический анализ и измерение линейных размеров микрорельефа поверхности твердотельных структур, элементный анализ от В до U на растровом электронном микроскопе JSM-6460LV и микроприставкой INCAX-SIGHT
CODE:
$
238.05
+
−
Add to cart
Лабораторное исследование, получение нано- и микро-изображений, спектральный точечный тест на электронном сканирующем микроскопе JSM-6490LV
CODE:
$
68.77
+
−
Add to cart
Получение снимка поверхности на растровом электронном микроскопе
CODE:
$
119.02
+
−
Add to cart
Получение снимка поверхности на растровом электронном микроскопе [CLONE]
CODE:
$
264.50
+
−
Add to cart
Prev
1
2
Next
Pages
Исследования и тесты на SEM сканирующем электронном микроскопе