Москва

Поиск

+7(495)661-61-09Пн-Пт: 9:00-18:00
Заказать обратный звонок

Элементы обозначенные тегом "SEM тестирование":

Товары

Сортировать по алфавиту: от А до Я
50 На страницу
Получение изображения поверхности образца методом сканирующей электронной микроскопии
$142.83
Описание лабораторного тестирования: Получение изображения поверхности образца методом сканирующей электронной микроскопии Используемое...
+ −
Купить в один клик
Элементный анализ микрообъектов с использованием метода сканирующей электронной микроскопии
$210.94

Элементный анализ микрообъектов с использованием метода сканирующей электронной микроскопии

+ −
Купить в один клик

Страницы