Москва

Поиск

+7(495)661-61-09Пн-Пт: 9:00-18:00
Заказать обратный звонок

Микроскопические тесты и исследования

Оптическая микроскопия, атомно-силовая микроскопия, сканирующая электронная микроскопия, просвечивающая электронная микроскопия, лазерные микроскопические конфокальные исследования, акустическая микроскопия, металлографический анализ

Сортировать по алфавиту: от А до Я
50 На страницу
Решение кристаллической структуры образца с использованием электронной томографии обратного пространства на просвечивающем электронном микроскопе Titan Themis Z с пробкорректором
£2,186.50

Решение кристаллической структуры образца с использованием электронной томографии обратного пространства на просвечивающем электронном микроскопе Titan Themis Z

+ −
Купить в один клик
Сканирующий тест, анализ топографии поверхности и под-поверхности, проведение 3D исследования на электронном двухлучевом микроxскопе Quanta 3D FEG
£71.23

Сканирующий тест, анализ топографии поверхности, проведение 3D исследования на электронном двухлучевом микроскопе Quanta 3D FEG

+ −
Купить в один клик
Элементный анализ микрообъектов с использованием метода сканирующей электронной микроскопии
£157.80

Элементный анализ микрообъектов с использованием метода сканирующей электронной микроскопии

+ −
Купить в один клик
Элементный анализ образца с картированием по 3 областям на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe FPIB/SEM
£613.41

Элементный анализ образца с картированием по 3 областям на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe FPIB/SEM

+ −
Купить в один клик
 Назад
1 2
Вперед