Москва

Поиск

+7(495)661-61-09Пн-Пт: 9:00-18:00
Заказать обратный звонок

Микроскопические тесты и исследования

Оптическая микроскопия, атомно-силовая микроскопия, сканирующая электронная микроскопия, просвечивающая электронная микроскопия, лазерные микроскопические конфокальные исследования, акустическая микроскопия, металлографический анализ

Сортировать по популярности: по убыванию
50 На страницу
Исследование образца методом атомно-силовой микроскопии в воздушной среде
5 500.00 ₽

Исследование образца методом атомно-силовой микроскопии в воздушной среде

+ −
Купить в один клик
Исследование кристаллической структуры образца с применением электронной дифракции на просвечивающем электронном микроскопе Titan Themis Z
112 000.00 ₽

Исследование кристаллической структуры образца с применением электронной дифракции на просвечивающем электронном микроскопе Titan Themis Z

+ −
Купить в один клик
Исследование образца методом атомно-силовой микроскопии в жидкой среде
14 200.00 ₽

Исследование образца методом атомно-силовой микроскопии в жидкой среде

+ −
Купить в один клик
Нанесение токопроводящих покрытии для исследования образца методом электронной микроскопии
3 000.00 ₽

Нанесение токопроводящих покрытии для исследования образца методом электронной микроскопии

+ −
Купить в один клик
 Назад
1 2
Вперед