Москва

Поиск

+7(495)661-61-09Пн-Пт: 9:00-18:00
Заказать обратный звонок

Микроскопические тесты и исследования

Оптическая микроскопия, атомно-силовая микроскопия, сканирующая электронная микроскопия, просвечивающая электронная микроскопия, лазерные микроскопические конфокальные исследования, акустическая микроскопия, металлографический анализ

Сортировать по времени: новинки выше
12 На страницу
Нанесение токопроводящих покрытии для исследования образца методом электронной микроскопии
3 000.00 ₽

Нанесение токопроводящих покрытии для исследования образца методом электронной микроскопии

+ −
Купить в один клик
Приготовление тонких срезов образцов для исследования методом электронной микроскопии
3 000.00 ₽

Приготовление тонких срезов образцов для исследования методом электронной микроскопии

+ −
Купить в один клик
Исследование образца методом оптической микроскопии на микроскопе высокого разрешения Imager Carl Zeiss
3 500.00 ₽

Исследование образца методом оптической микроскопии на микроскопе высокого разрешения Imager Carl Zeiss

+ −
Купить в один клик
Исследование образца методом атомно-силовой микроскопии в жидкой среде
14 200.00 ₽

Исследование образца методом атомно-силовой микроскопии в жидкой среде

+ −
Купить в один клик
Исследование образца методом атомно-силовой микроскопии в воздушной среде
5 500.00 ₽

Исследование образца методом атомно-силовой микроскопии в воздушной среде

+ −
Купить в один клик
Элементный анализ микрообъектов с использованием метода сканирующей электронной микроскопии
15 950.00 ₽

Элементный анализ микрообъектов с использованием метода сканирующей электронной микроскопии

+ −
Купить в один клик
Получение изображения поверхности образца методом сканирующей электронной микроскопии
10 800.00 ₽
Описание лабораторного тестирования: Получение изображения поверхности образца методом сканирующей электронной микроскопии Используемое...
+ −
Купить в один клик
Исследование морфологии поверхности на SEM сканирующем электронном микроскопе
9 000.00 ₽

Исследование морфологии поверхности на сканирующем электронном микроскопе

+ −
Купить в один клик
Определение элементного состава микроучастка поверхности на растровом электронном микроскопе с помощью приставок для волнодисперсионного или энергодисперсионного ренгенофлуоресцентного анализа
20 000.00 ₽

Определение элементного состава микроучастка поверхности на растровом электронном микроскопе с помощью приставок для волнодисперсионного или энергодисперсионного ренгенофлуоресцентного анализа

+ −
Купить в один клик
Получение снимка поверхности на SEM растровом электронном микроскопе
9 000.00 ₽

Получение снимка поверхности на растровом электронном микроскопе

+ −
Купить в один клик
Визуализация многослойных структур и гетероструктур с атомарным разрешением на просвечивающем электронном микроскопе Titan Themis Z
130 000.00 ₽

Визуализация многослойных структур и гетероструктур с атомарным разрешением на просвечивающем электронном микроскопе Titan Themis Z

+ −
Купить в один клик
Визуализация наночастиц с использованием электронной томографии на просвечивающем электронном микроскопе Titan Themiz S с пробкорректором
222 000.00 ₽
Визуализация наночастиц с использованием электронной томографии на просвечивающем электронном микроскопе Titan Themiz S с пробкорректором
+ −
Купить в один клик
 Назад
1 2 3 4 5
Вперед