Москва

Поиск

+7(495)661-61-09Пн-Пт: 9:00-18:00
Заказать обратный звонок

Микроскопические тесты и исследования

Оптическая микроскопия, атомно-силовая микроскопия, сканирующая электронная микроскопия, просвечивающая электронная микроскопия, лазерные микроскопические конфокальные исследования, акустическая микроскопия, металлографический анализ

Сортировать по времени: новинки выше
50 На страницу
Исследование на акустическом микроскопе для объемных структур KSI v-350lm
4 800.00 ₽

Исследование на акустическом микроскопе для объемных структур KSI v-350lm

+ −
Купить в один клик
Анализ топографии поверхности и получение 3D изображений образца на лазерном конфокальном сканирующем микроскопе Lasertech VL2000DX
12 000.00 ₽
Наблюдение и измерение топографии поверхности различных образцов в микронном масштабе. Позволяет получать 3D изображение поверхности образца, при диапазоне...
+ −
Купить в один клик
Лабораторное исследование, получение нано- и микро-изображений, спектральный точечный тест на электронном сканирующем микроскопе JSM-6490LV
5 200.00 ₽

Лабораторное исследование и получение изображения на электронный сканирующем микроскопе JSM-6490LV

+ −
Купить в один клик
Лабораторный тест на атомно-силовом микроскопе SmartSPM
9 800.00 ₽

Диапазон сканирования 100х100х15 мкм (±10 %); высокая линейность позволяет использовать сканер для метрологических приложений; малошумящие датчики обратной связи позволяют получать разрешение, при котором различимы атомарные ступеньки; максимальный размер образца 5х5х1 см. Используется обычный кантилевер (контактный/бесконтакнтный)

+ −
Купить в один клик
 Назад
1 2
Вперед